Araştırma

From The Emerging Circuits and Computation Group at ITU
(Difference between revisions)
Jump to: navigation, search
 
(89 intermediate revisions by one user not shown)
Line 1: Line 1:
−
Araştırmalarımızın amacı, elektronik devre ve sistemler için hesaplama, devre tasarımı ve güvenilirlik konularında yeni yaklaşımlar geliştirmektir. Araştırmalarımız temelde yeni ve gelişen teknolojileri hedef almaktadır.
+
Araştırmalarımızın amacı, elektronik devre ve sistemler için hesaplama, devre tasarımı ve güvenilirlik konularında yeni yaklaşımlar geliştirmektir. Araştırmalarımız temelde yeni ve gelişen teknolojileri ve hesaplama düzenlerini hedef almaktadır.
 +
Aşağıda en yeniden en eskiye ve önem sırasına göre sıralanan araştırma konuları yer almaktadır. Her konu kısaca anlatılmış ve ilgili yayın ve projeler eklenmiştir.
  
 
<div style="float:center; font-size:110%; font-weight:bold; clear:both; padding:0; margin:0.0em;">__TOC__</div>
 
<div style="float:center; font-size:110%; font-weight:bold; clear:both; padding:0; margin:0.0em;">__TOC__</div>
Line 6: Line 7:
 
{| id=portal cellspacing="0" cellpadding="0" width=100% style="border:1px solid #B8C7D9; padding:0px;"
 
{| id=portal cellspacing="0" cellpadding="0" width=100% style="border:1px solid #B8C7D9; padding:0px;"
 
|-
 
|-
−
| colspan="2" style="background:#8FBCCF; text-align:center; padding:1px; border-bottom:1px #8FBCCF solid;" |
+
| colspan="2" style="background:#8FBCBF; text-align:center; padding:1px; border-bottom:1px #8FBCBF solid;" |
−
<h2 style="margin:.1em; border-bottom:1px; font-size:140%; font-weight:bold;"> Nano Dizinler ile Devre Tasarımı </h2>
+
<h2 style="margin:.1em; border-bottom:1px; font-size:140%; font-weight:bold;"> Anahtarlamalı Kafesler ile Hesaplama </h2>
  
 
|-
 
|-
 
| valign="top" style="padding:8px 8px 0px 8px; background:#f5fffa;" <!--H210 S4 V100--> |
 
| valign="top" style="padding:8px 8px 0px 8px; background:#f5fffa;" <!--H210 S4 V100--> |
  
−
CMOS tranzistör boyutlarındaki küçülme trendi günümüzde kritik bir noktaya ulaşmıştır ve bu trendin yakın gelecekte sonlanacağı öngörülmektedir. Bu noktada araştırmalar yeni nanoteknolojilere ve moleküler düzeyde kendiliğinden üretilebilen (self-assembled) sistemlere kaymaktadır. Litografi gibi karmaşık yollarla üretilen geleneksel CMOS tabanlı teknolojilerden farklı olarak, nano düzeydeki teknolojiler genellikle düzenli yapılardan oluşmaktadır. Bu teknolojilerde lojik fonksiyonlar nano dizinlerdeki çaprazlayıcı anahtarlarla gerçeklenmektedir. Önerdiğimiz model, dört uçlu anahtarlardan oluşan ağlar, bu tip nano dizinlere yöneliktir. Modelimiz nanotel anahtarlamalı dizinler ve manyetik nano anahtarlamalı devreler gibi birçok yeni nano düzeydeki teknolojiye uygulanabilmektedir.  
+
Dört uçlu anahtarlardan oluşan iki boyutlu bir ağ olarak oluşturulan anahtarlamalı kafes, lojik hesaplama için düzenli, yoğun, alan verimli ve CMOS uyumlu bir yapı olarak sunulmuştur. Kafesin her bir bölümü dört uçlı bir anahtardır ve bir kontrol girişine ve dört terminale sahiptir. Kontrol girişi, tüm terminallerinin bağlantılarını keser (KAPALI) veya tümünün bağlı (AÇIK) olmasını sağlar.
 +
 
 +
[[Image:arastirma_lattice_logic.png|center|none|800px|link=]]
  
 
<h3>
 
<h3>
−
Sentez</h3>
+
Teknoloji Geliştirme</h3>
  
−
[http://en.wikipedia.org/wiki/Claude_Shannon Claude Shannon] 1947 yılında sunduğu mastır tezinde devrim niteliğinde bir hesaplama modeli sunmuştur. Bu model ile Shannon, herhangi bir Boolean fonksiyonun '''iki uçlu''' anahtarlardan oluşan bir ağ ile gerçeklenebileceğini göstermiştir. Shannon’ın bu çalışması milyarlarca tranzistörlerden oluşan modern CMOS devrelerin temelini oluşturmaktadır. Biz bu çalışmada
+
Anahtarlamalı kafeslerinin '''CMOS uyumlu''' olduğunu gösterdik. Bu amaçla, farklı dört uçlu anahtar yapıları önerdik; bunları üç boyutlu teknoloji bilgisayar destekli tasarım (TCAD) ortamında, TSMC 65nm CMOS prosesinin tasarım kurallarını karşılayarak, ve ayrıca Cadence ortamında kurduk ve simülasyonlarını tamamladık. Deneysel sonuçlar, anahtarlamalı kafesleri kullanılarak lojik fonksiyonları gerçeklemenin, geleneksel CMOS gerçeklemeleri  ile karşılaştırıldığında '''çok daha az serim alanı kapladığını''' ve rekabetçi gecikme ve güç tüketimi değerlerine sahip olduğunu göstermektedir.
−
'''dört uçlu''' anahtar bazlı yeni bir model sunduk ve bu model ile herhangi bir Boolean fonksiyonun gerçeklenebileceğini gösterdik. Modelimizin nano dizin tabanlı devre tasarım tekniklerine temel oluşturması amaçlanmaktadır.
+
  
−
[[Image:Arastirma-1.png|center|none|800px|link=]]
+
[[Image:arastirma_lattice_technology.png|center|none|800px|link=]]  
  
 
<h3>
 
<h3>
−
Güvenilirlik</h3>
+
Performans Optimizasyonu</h3>
 +
'''Gecikme kısıtlaması''' altında kafes boyutlarını optimize etmek için bir lojik sentez algoritması önerdik. Ayrıca kafeslerin '''alan-gecikme-güç verimliliği için statik ve dinamik lojik çözümleri''' önerdik.
 +
<!-- [[Image:Research-2.png|center|none|800px|link=]] -->
  
−
Yüksek hata oranları içeren nano dizinler için [http://en.wikipedia.org/wiki/Percolation_theory matematiksel pörkülasyon] teorisine dayanan yeni bir hata tolerans tekniği geliştirdik. Bu teknik ile dizinlerdeki rastgele hatalar tolere edilebilecek ve böylece Boolean fonksiyonları güvenilir olarak gerçeklenebilecektir.
+
<h3>
 +
Sentez</h3>
 +
Minimum boyutta anahtarlama kafesler ile lojik fonksiyonları gerçeklemek için '''optimum ve sezgisel algoritmalar''' önerdik.
  
−
[[Image:Arastirma-2.png|center|none|800px|link=]]
+
<!-- [[Image:Research-1.png|center|none|800px|link=]] -->
  
 
<!--        YAYIN      -->
 
<!--        YAYIN      -->
Line 41: Line 47:
 
| width="696" |'''Seçilmiş Yayınlar'''
 
| width="696" |'''Seçilmiş Yayınlar'''
 
|}
 
|}
 +
 
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
  
Line 47: Line 54:
 
|- valign=top
 
|- valign=top
 
| width="100" |'''başlık''':
 
| width="100" |'''başlık''':
−
| width="450"|[[Media:Altun_Riedel_Logic_Synthesis_for_Switching_Lattices.pdf | Logic Synthesis for Switching Lattices]]
+
| width="450"|[[Media: Akkan_EtAl_H_and_Square_Lattice_Technology_Development.pdf | Technology Development and Modeling of Switching Lattices Using Square and H Shaped Four-Terminal Switches]]
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''yazarlar''':
 
| '''yazarlar''':
−
| [[Mustafa Altun]] ve [http://cadbio.com/wiki/index.php/Marc_Riedel Marc Riedel]
+
| width="450"| Nihat Akkan, Serzat Safaltin, Levent Aksoy, Ismail Cevik, Herman Sedef, Csaba Andras Moritz ve [[Mustafa Altun]]  
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''makale''':
 
| '''makale''':
−
| [http://www.computer.org/portal/web/tc IEEE Transactions on Computers], <br>Vol. 61, Issue 11, pp. 1588&ndash;1600, 2012.
+
| width="450" | [http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=6245516 IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing], Vol. 10, Issue 1, pp. 351&ndash;360, 2022.
−
|- valign="top"
+
|- valign=top
 
| '''bildiri''':
 
| '''bildiri''':
−
| [http://www.dac.com Design Automation Conference], Anaheim, CA, 2010.
+
| width="450"| [http://www.date-conference.com/ Design, Automation and Test in Europe (DATE)], Grenoble, France, 2020.
−
|- valign="top"
+
−
| '''bildiri''':
+
−
| [http://fias.uni-frankfurt.de/ International Conference on Computational Modelling of <br> Nanostructured Materials (ICCMNM)-FIAS], Frankfurt, Germany, 2013.
+
 
|}
 
|}
 +
 
| align=center width="70" |
 
| align=center width="70" |
 
<span class="plainlinks">
 
<span class="plainlinks">
−
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/c/ca/Altun_Riedel_Logic_Synthesis_for_Switching_Lattices.pdf]]</span>
+
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/6/69/Akkan_EtAl_H_and_Square_Lattice_Technology_Development.pdf]]</span>
 
<br>
 
<br>
−
[[Media:Altun_Riedel_Logic_Synthesis_for_Switching_Lattices.pdf | Yayın]]
+
[[Media:Akkan_EtAl_H_and_Square_Lattice_Technology_Development.pdf | Yayın]]
 
| align="center" width="70" |
 
| align="center" width="70" |
 
<span class="plainlinks">
 
<span class="plainlinks">
  
−
[[File:PPT.jpg|60px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/2/28/Altun_Riedel_Lattice-Based_Computation_of_Boolean_Functions.ppt]]
+
[[File:PPT.jpg|60px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/1/1c/Cevik_Aksoy_Altun_CMOS_Implementation_of_Switching_Lattices.pptx]]
 
</span>
 
</span>
−
<br> [http://www.ecc.itu.edu.tr/images/2/28/Altun_Riedel_Lattice-Based_Computation_of_Boolean_Functions.ppt Sunum]
+
<br> [https://www.ecc.itu.edu.tr/images/1/1c/Cevik_Aksoy_Altun_CMOS_Implementation_of_Switching_Lattices.pptx Sunum]
 
|}
 
|}
  
 
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
−
 
 
|
 
|
 
{|
 
{|
 
|- valign=top
 
|- valign=top
 
| width="100" |'''başlık''':
 
| width="100" |'''başlık''':
−
| width="450"|[[Media:Altun_Riedel_Synthesizing_Logic_with_Percolation_in_Nanoscale_Lattices.pdf | Synthesizing Logic with Percolation in Nanoscale Lattices]]
+
| width="450"|[[Media:Aksoy_Altun_Realizations_with_Switching_Lattices.pdf | Novel Methods for Efficient Realization of Logic Functions Using Switching Lattices]]
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''yazarlar''':
 
| '''yazarlar''':
−
| [[Mustafa Altun]] ve [http://cadbio.com/wiki/index.php/Marc_Riedel Marc Riedel]
+
| Levent Aksoy ve [[Mustafa Altun]]
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''makale''':
 
| '''makale''':
−
| [http://www.igi-global.com/Bookstore/TitleDetails.aspx?TitleId=1117&DetailsType=Description/ International Journal of Nanotechnology and Molecular Computation], <br>Vol. 3, Issue 2, pp. 12&ndash;30, 2011.
+
| width="450" | [http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=12 IEEE Transactions on Computers], Vol. 69, Issue 3, pp. 427&ndash;440, 2020.
−
|- valign=top
+
|- valign="top"
 
| '''bildiri''':
 
| '''bildiri''':
−
| [http://www.dac.com Design Automation Conference], San Francisco, CA, 2009.
+
| width="450"| [http://www.date-conference.com/ Design, Automation and Test in Europe (DATE)], Florence, Italy, 2019.
 
|}
 
|}
−
 
 
| align=center width="70" |
 
| align=center width="70" |
 
<span class="plainlinks">
 
<span class="plainlinks">
−
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/3/3b/Altun_Riedel_Synthesizing_Logic_with_Percolation_in_Nanoscale_Lattices.pdf]]</span>
+
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/e/e0/Aksoy_Altun_Realizations_with_Switching_Lattices.pdf]]</span>
 
<br>
 
<br>
−
[[Media:Altun_Riedel_Synthesizing_Logic_with_Percolation_in_Nanoscale_Lattices.pdf | Yayın]]
+
[[Media:Aksoy_Altun_Realizations_with_Switching_Lattices.pdf | Yayın]]
 
| align="center" width="70" |
 
| align="center" width="70" |
 
<span class="plainlinks">
 
<span class="plainlinks">
  
−
[[File:PPT.jpg|60px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/f/fe/Altun_Riedel_Neuhauser_Nanoscale_Digital_Computation_Through_Percolation.ppt]]
+
[[File:PPT.jpg|60px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/5/54/Aksoy_Altun_SAT_based_Synthesis_of_Switching_Lattices.pptx]]
 
</span>
 
</span>
−
<br> [http://www.ecc.itu.edu.tr/images/f/fe/Altun_Riedel_Neuhauser_Nanoscale_Digital_Computation_Through_Percolation.ppt Sunum]
+
<br> [https://www.ecc.itu.edu.tr/images/5/54/Aksoy_Altun_SAT_based_Synthesis_of_Switching_Lattices.pptx Sunum]
 
|}
 
|}
  
Line 121: Line 124:
 
|
 
|
 
{|
 
{|
−
|- valign=top
+
|- valign="top"
 
| width="140" |'''başlık''':
 
| width="140" |'''başlık''':
−
| width="558"|Nano Anahtarlamalı Dizinlerin Sentezi ve Güvenilirlik analizi
+
| width="558"| Anahtarlamalı Kafesler ile Hesaplama: Teknoloji Geliştirme, Eleman Modelleme ve Devre Tasarımı
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''kurum & program''':
 
| '''kurum & program''':
−
| [http://www.tubitak.gov.tr/tr/destekler/akademik/ulusal-destek-programlari/icerik-3501-ulusal-genc-arastirmaci-kariyer-gelistirme-programi TÜBİTAK Kariyer Geliştirme Programı (3501)]
+
| width="450"| [https://h2020.org.tr/tr/content/tubitak-ulusal-bilim-vakfi-nsf-ikili-isbirligi-destek-programi TUBITAK-NSF İkili İşbirliği Programı (2501)]
 +
|- valign="top"
 +
| '''bütçe''':
 +
| 720.000 TL
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''süre''':
 
| '''süre''':
−
| 2014-2017
+
| 2019-2023, ''tamamlandı''
 
|}
 
|}
−
+
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:0.1px solid #abd5ff; background:#f1f5fc; padding:0.2em 0em;"
 +
|- valign="top"
 +
| width="140" |'''proje hedefi''':
 +
| width="558"| Anahtarlamalı kafes yapılarına dayanan, CMOS uyumlu, ve geleneksel CMOS devrelerine göre çok daha düşük alan kaplayan yeni bir teknoloji geliştirmek ve geliştirilen teknoloji için eksiksiz bir elektronik tasarım otomasyon (Electronic Design Automation – EDA) metodolojisi sunmak.
 +
|}
 
|}
 
|}
 +
 +
|}
 +
|}
 +
|}
 +
 +
 +
{| id=portal cellspacing="0" cellpadding="0" width=100% style="border:1px solid #B8C7D9; padding:0px;"
 +
|-
 +
| colspan="2" style="background:#8FBCAF; text-align:center; padding:1px; border-bottom:1px #8FBCAF solid;" |
 +
<h2 style="margin:.1em; border-bottom:1px; font-size:140%; font-weight:bold;"> Enerji Verimli YSA Donanım gerçeklemesi </h2>
 +
|-
 +
| valign="top" style="padding:8px 8px 0px 8px; background:#f5fffa;" <!--H210 S4 V100--> |
 +
 +
İleri beslemeli yapay sinir ağlarının (YSA) enerji tüketimini azaltmak için '''donanıma odaklı eğitim''' tekniklerini, yeni '''hibrit bit paralel seri''' sayı temsillerini ve sabit çarpma tabanlı '''paylaşım''' tekniklerini kullanmayı amaçlıyoruz.
 +
 +
[[Image:arastirma_ANN.png|center|none|800px|link=]]
 +
 +
 +
<!--        YAYIN      -->
 +
{| id="mp-upper" style="width: 100%; margin:4px 0 0 0; background:none; border-spacing: 0px;"
 +
| class="MainPageBG" style="width:50%; border:0px solid #D8BFD8; vertical-align:top; color:#000;" |
 +
{| id="mp-left" style="width:100%; vertical-align:top;"
 +
 +
|
 +
 +
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#d0e5f5; padding:0.2em 0.5em; font-weight:bold;"
 +
 +
|- valign=top
 +
| width="696" |'''Seçilmiş Yayınlar'''
 +
|}
 +
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 +
|
 +
{|
 +
|- valign=top
 +
| width="100" |'''başlık''':
 +
| width="450"| [[Media:Aksoy_Parvin_Nojehdeh_Altun_Time_Multiplexed_ANN_Implementation.pdf | Efficient Time-Multiplexed Realization of Feedforward Artificial Neural Networks]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''yazarlar''':
 +
| Levent Aksoy, Sajjad Parvin, Mohammadreza Nojehdeh ve [[Mustafa Altun]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''bildiri''':
 +
| width="450"| [http://iscas2020.org/ IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)], Seville, Spain, 2020.
 +
|}
 +
| align=center width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/e/eb/Aksoy_Parvin_Nojehdeh_Altun_Time_Multiplexed_ANN_Implementation.pdf]]</span>
 +
<br>
 +
[[Media:Aksoy_Parvin_Nojehdeh_Altun_Time_Multiplexed_ANN_Implementation.pdf | Yayın]]
 +
| align="center" width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
 +
[[File:PPT.jpg|60px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/3/3a/Aksoy_Parvin_Nojehdeh_Altun_Time_Multiplexed_ANN_Implementation.pptx]]
 +
</span>
 +
<br> [https://www.ecc.itu.edu.tr/images/3/3a/Aksoy_Parvin_Nojehdeh_Altun_Time_Multiplexed_ANN_Implementation.pptx Sunum]
 +
|}
 +
|}
 +
 +
| style="border:1px solid transparent;" |
 +
<!--        PROJE      -->
 +
| class="MainPageBG" style="width:50%; border:0px solid #A9A9A9; vertical-align:top;"|
 +
{| id="mp-right" style="width:100%; vertical-align:top;"
 +
 +
|
 +
 +
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#d0e5f5; padding:0.2em 0.5em; font-weight:bold;"
 +
 +
|- valign=top
 +
| width="696" |'''Proje Desteği'''
 +
|}
 +
 
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
  
Line 139: Line 219:
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| width="140" |'''başlık''':
 
| width="140" |'''başlık''':
−
| width="558"|Nanodizinler ile Lojik Devre Tasarımı
+
| width="558"|Çok Düşük Enerji Tüketen Taşınabilir Kullanıma Uygun Yapay Sinir Ağlarının (YSA) Donanım Gerçeklemeleri
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
−
| '''kurum & program''':
+
| '''kurum& program''':
−
| [http://www.tubitak.gov.tr/tr/burslar/lisans/burs-programlari/icerik-2209-a-universite-ogrencileri-yurt-ici-arastirma-projeleri-destek-p TÜBİTAK Üniversite Öğrencileri Yurt İçi Araştırma Projeleri Destek Programı (2209/A)]
+
| [http://www.tubitak.gov.tr/tr/destekler/akademik/ulusal-destek-programlari/icerik-1001-bilimsel-ve-teknolojik-arastirma-projelerini-destekleme-pr TÜBİTAK Bilimsel ve Teknolojik Araştırma Projelerini Destekleme Programı (1001)]
 +
|- valign="top"
 +
| '''bütçe''':
 +
| 400.000 TL
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''süre''':
 
| '''süre''':
−
| 01/2014-07/2014
+
| 2020-2023, ''tamamlandı''
 
|}
 
|}
−
+
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:0.1px solid #abd5ff; background:#f1f5fc; padding:0.2em 0em;"
 +
|- valign="top"
 +
| width="140" |'''proje hedefi''':
 +
| width="558"| Sayı sistemlerinden başlanarak lojik, devre ve sistem gerçekleme seviyelerinde enerji optimizasyonu yapmak.
 +
 
 +
|}
 
|}
 
|}
 +
<!-- {| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
  
 +
|
 +
{|
 +
|- valign=top
 +
| width="140" |'''title''':
 +
| width="558"| Gate and Transistor Implementations of Accurate Arithmetic Operation Blocks with Stochastic Logic
 +
|- valign="top"
 +
| '''agency & program''':
 +
| [http://bap.itu.edu.tr/ Istanbul Technical University Research Support Program (ITU-BAP)]
 +
|- valign="top"
 +
| '''duration''':
 +
| 2017-2019
 +
|}
 +
 +
|} -->
 
|}
 
|}
 
|}
 
|}
 
|}
 
|}
  
−
 
−
<!--        RELIABILITY    -->
 
  
 
{| id=portal cellspacing="0" cellpadding="0" width=100% style="border:1px solid #B8C7D9; padding:0px;"
 
{| id=portal cellspacing="0" cellpadding="0" width=100% style="border:1px solid #B8C7D9; padding:0px;"
 
|-
 
|-
−
| colspan="2" style="background:#8FBCBF; text-align:center; padding:1px; border-bottom:1px #8FBCBF solid;" |
+
| colspan="2" style="background:#8FBC9F; text-align:center; padding:1px; border-bottom:1px #8FBC9F solid;" |
−
<h2 style="margin:.1em; border-bottom:1px; font-size:140%; font-weight:bold;"> Elektronik Kartların Güvenilirliği </h2>
+
<h2 style="margin:.1em; border-bottom:1px; font-size:140%; font-weight:bold;"> Nano-Çaprazlayıcı Dizinler ile Hesaplama </h2>
 +
 
 
|-
 
|-
 
| valign="top" style="padding:8px 8px 0px 8px; background:#f5fffa;" <!--H210 S4 V100--> |
 
| valign="top" style="padding:8px 8px 0px 8px; background:#f5fffa;" <!--H210 S4 V100--> |
  
−
Elektronik sektöründe yaşanan baş döndürücü gelişmeler, elektronik devre ve sistemlerin güvenilirliği kavramını yeniden şekillendirmiştir. Elektronik ürünlerin günümüzdeki hızlı üretim döngüleri, uzun süreli ve masraflı olan geleneksel hızlandırılmış testlerin öneminin azalmasına neden olmuştur. Biz bu çalışmada görece masrafsız ve yüksek doğruluklu bir güvenilirlik analizi metodolojisi önerdik.  Bu noktada saha verileri, yeni hızlandırılmış testler ve hata fiziği tabanlı benzetimlerden yararlandık. Çalışmalarımız Avrupa'nın en büyük ev aletleri ve beyaz eşya üreticilerinden biri olan [http://www.arcelik.com.tr/ Arçelik A.Ş.] ile birlikte yürütülmektedir.
+
Nano-çaprazlayıcı dizinler yakın gelecekte CMOS'un yerini alacak güçlü bir aday teknoloji olarak ortaya çıkmıştır. Düzenli ve sık yapıdadırlar. Dizinler ile hesaplama, iki-uçlu ya da dört-uçlu anahtarlar gibi davranan çaprazlama noktaları ile elde edilir. Kullanılan teknolojiye bağlı olarak, iki-uçlu bir anahtar, diyot, direnç/memristor veya FET gibi davranır. Öte yandan, dört-uçlu anahtarın tek bir davranışı vardır. İki-uçlu anahtar tabanlı dizinler için önerilen birçok farklı teknoloji olmasına rağmen, dört-uçlu anahtar tabanlı dizinler, anahtarlamalı kafesler, için teknoloji geliştirme yakın zamanda başlamıştır.
  
−
[[Image:Arastirma-3.png|center|none|800px|link=]]
+
Hem iki-uçlu hem de dört-uçlu anahtar tabanlı dizinler için, ortaya çıkacak bir nano bilgisayarın tasarımı ve yapımı için tam bir sentez ve performans optimizasyon metodolojisi geliştirmeyi hedefliyoruz. Ayrıca, özellikle anahtarlamalı kafesleri gerçeklemek için CMOS uyumlu teknolojiler geliştirmeyi hedefliyoruz.
 +
 
 +
[[Image:arastirma_nano-2019.png|center|none|800px|link=]]
  
 
<h3>
 
<h3>
−
Saha Verileri ile Analiz ve Tahmin</h3>
+
Teknoloji Geliştirme</h3>
  
−
Elektronik kartların saha arıza verilerini kullanarak güvenilirlik analizi yaptık. Analizimiz '''filtreleme''' ve '''modelleme''' aşamalarından oluşmaktadır. Filtreleme aşamasında, açık ve gizli hataların yer aldığı uygunsuz verileri tüm veri setinden eledik.  Modelleme aşamasında, filtrelenmiş verileri kullanarak parçalı güvenilirlik modelimizi geliştirdik. Güvenilirlik analizimiz, verilerin ileri ve geri yönde incelenmesine dayanan yeni bir yaklaşımdır.  
+
Dört-uçlu anahtar tabanlı bir dizin, iki-uçlu anahtarlara kıyasla, anahtar sayısı bakımından '''önemli bir alan avantajı''' sunsa da, teknoloji seviyesinde gerçekleştirilmesi henüz net olarak cevaplanmamıştır. Bu ihtiyacı karşılamak için, üç boyutlu teknoloji bilgisayar destekli tasarım (TCAD) simülasyonları kullanarak, '''dört-uçlu anahtarların doğrudan CMOS teknolojisi ile gerçeklenebileceğini gösterdik'''. Ardından, TCAD simülasyon verilerini standart CMOS akım-gerilim denklemlerine uyarlayarak, dört-uçlu bir anahtarın Spice modelini geliştirdik.  
  
−
Elektronik kartların '''kısa süreli saha verilerini''' kullanarak, garanti süresi içerisindeki güvenilirlik performanslarını yüksek doğrulukta tahmin ettik. Bu çalışmada kullandığımız kartların garanti süresi 3 yıldır ve kullandığımız veri seti 3 aylıktır.  
+
<h3>
 +
Performans Optimizasyonu</h3>
 +
 
 +
Memristor tabanlı dizinleri de içeren nano anahtarlamalı dizinlerin optimizasyonu üzerine çalışıyoruz. Dizilerin '''alan, gecikme ve güç maliyetlerini dikkate alarak hataya dayanıklı lojik sentez algoritmaları''' önerdik.
 +
 
 +
<h3>
 +
Hata Toleransı</h3>
 +
 
 +
Yeniden ayarlanabilir nano dizinlerde oluşan '''açık ve kapalı hataları''' inceledik. '''Kalıcı''' hatalar için, sıralama, geri-izleme ve satır eşleştirme tekniklerini kullanan hızlı bir buluşsal algoritma geliştirdik. '''Yumuşak/geçici''' hatalar için,  tolere edilebilir bütün hata yerlerini yinelemeli bir teknik kullanarak belirledik.
 +
 
 +
<h3>
 +
Sentez</h3>
 +
'''Boolean fonksiyonları''' diyot, FET ve dört-uçlu anahtar tabanlı nano dizinler ile gerçekledik ve dizin boyut formülleri elde ettik. Buna ek olarak, dört-uçlu anahtarlardan oluşan dizinleri '''optimum''' sentezleyen bir algoritma geliştirdik.  
  
 +
<!--[[Image:Arastirma-1.png|center|none|800px|link=]] -->
 +
<!--[[Image:Arastirma-2.png|center|none|800px|link=]] -->
 
<!--        YAYIN      -->
 
<!--        YAYIN      -->
 
{| id="mp-upper" style="width: 100%; margin:4px 0 0 0; background:none; border-spacing: 0px;"
 
{| id="mp-upper" style="width: 100%; margin:4px 0 0 0; background:none; border-spacing: 0px;"
Line 194: Line 312:
 
|- valign=top
 
|- valign=top
 
| width="100" |'''başlık''':
 
| width="100" |'''başlık''':
−
| width="450"|[[Media:Comert_Altun_Nadar_Erturk_Warranty_Forecasting_of_Electronic_Boards_using_Short-term_Field_Data.pdf | Warranty Forecasting of Electronic Boards using Short-term Field Data]]
+
| width="450"|[[Media: Safaltin_EtAl_Technology_Development_for_Switching_Lattices.pdf| Realization of Four-Terminal Switching Lattices: Technology Development and Circuit Modeling]]
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''yazarlar''':
 
| '''yazarlar''':
−
| Vehbi Comert, [[Mustafa Altun]], [http://akademi.itu.edu.tr/nadar/ Mustafa Nadar] ve Ertunc Erturk
+
| width="450"| Dan Alexandrescu, Serzat Safaltin, Oguz Gencer, Ceylan Morgul, Levent Aksoy, Sebahattin Gurmen, Csaba Andras Moritz ve [[Mustafa Altun]]
 
|- valign=top
 
|- valign=top
 
| '''bildiri''':
 
| '''bildiri''':
−
| [http://rams.org/ Reliability and Maintainability Symposium], Palm Harbor, FL, 2015.
+
| [http://www.date-conference.com/ Design, Automation and Test in Europe (DATE)], Florence, Italy, 2019.
 
|}
 
|}
  
 
| align=center width="70" |
 
| align=center width="70" |
 
<span class="plainlinks">
 
<span class="plainlinks">
−
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/f/fd/Comert_Altun_Nadar_Erturk_Warranty_Forecasting_of_Electronic_Boards_using_Short-term_Field_Data.pdf]]</span>
+
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/2/2c/Safaltin_EtAl_Technology_Development_for_Switching_Lattices.pdf]]</span>
 
<br>
 
<br>
−
[[Media:Comert_Altun_Nadar_Erturk_Warranty_Forecasting_of_Electronic_Boards_using_Short-term_Field_Data.pdf| Yayın]]
+
[[Media:Safaltin_EtAl_Technology_Development_for_Switching_Lattices.pdf | Yayın]]
 
| align="center" width="70" |
 
| align="center" width="70" |
 
<span class="plainlinks">
 
<span class="plainlinks">
  
−
[[File:PPT.jpg|60px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/a/a7/Comert_Altun_Nadar_Erturk_Warranty_Forecasting_of_Electronic_Boards_using_Short-term_Field_Data.pptx]]
+
[[File:PPT.jpg|60px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/7/71/Safaltin_EtAl_Technology_Development_for_Switching_Lattices.pptx]]
 
</span>
 
</span>
−
<br> [http://www.ecc.itu.edu.tr/images/a/a7/Comert_Altun_Nadar_Erturk_Warranty_Forecasting_of_Electronic_Boards_using_Short-term_Field_Data.pptx Sunum]
+
<br> [https://www.ecc.itu.edu.tr/images/7/71/Safaltin_EtAl_Technology_Development_for_Switching_Lattices.pptx Sunum]
 +
|}
  
 +
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 +
|
 +
{|
 +
|- valign=top
 +
| width="100" |'''başlık''':
 +
| width="450"|[[Media:Tunali_Morgul_Altun_Defect_Tolerant_Memristor_Crossbars.pdf | Defect Tolerant Logic Synthesis for Memristor Crossbars with Performance Evaluation]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''yazarlar''':
 +
| Onur Tunali ve [[Mustafa Altun]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''makale''':
 +
| width="450" | [http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=40 IEEE Micro], Vol. 38, Issue 5, pp. 22&ndash;31, 2018.
 +
|- valign="top"
 +
| '''bildiri''':
 +
| [http://www.date-conference.com/ Design, Automation and Test in Europe (DATE)], Dresden, Germany, 2018.
 +
|}
 +
| align=center width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/d/db/Tunali_Morgul_Altun_Defect_Tolerant_Memristor_Crossbars.pdf]]</span>
 +
<br>
 +
[[Media:Tunali_Morgul_Altun_Defect_Tolerant_Memristor_Crossbars.pdf| Yayın]]
 +
| align="center" width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
 +
[[File:PPT.jpg|60px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/b/b8/Tunali_Altun_Logic_Synthesis_and_Defect_Tolerance_for_Memristive_Crossbars.pptx]]
 +
</span>
 +
<br> [https://www.ecc.itu.edu.tr/images/b/b8/Tunali_Altun_Logic_Synthesis_and_Defect_Tolerance_for_Memristive_Crossbars.pptx Sunum]
 
|}
 
|}
  
Line 223: Line 369:
 
|- valign=top
 
|- valign=top
 
| width="100" |'''başlık''':
 
| width="100" |'''başlık''':
−
| width="450"|[[Media:Comert_Yadavari_Altun_Erturk_Reliability_Prediction_of_Electronic_Boards_by_Analyzing_Field_Return_Data.pdf | Reliability Prediction of Electronic Boards by Analyzing Field Return Data]]
+
| width="450"|[[Media:Altun_EtAl_Synthesis_and_Testing_for_Switching_Nano_Crossbar_Arrays.pdf | Logic Synthesis and Testing Techniques for Switching Nano-Crossbar Arrays]]
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''yazarlar''':
 
| '''yazarlar''':
−
| Vehbi Comert, Hadi Yadavari, [[Mustafa Altun]] ve Ertunc Erturk
+
| Dan Alexandrescu, [[Mustafa Altun]], Lorena Anghel, Anna Bernasconi,<br> Valentina Ciriani, Luca Frontini ve Mehdi Tahoori
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 +
| '''makale''':
 +
| width="450" | [http://www.journals.elsevier.com/microprocessors-and-microsystems/ Microprocessors and Microsystems], Vol. 54, pp. 14&ndash;25, 2017.
 +
|- valign=top
 
| '''bildiri''':
 
| '''bildiri''':
−
| [http://www.esrel2014.org/ European Safety and Reliability Conference], Wroclaw ,Poland, 2014.
+
| [http://dsd-seaa2016.cs.ucy.ac.cy/index.php Euromicro Conference on Digital System Design (DSD)],<br> Limassol, Cyprus, 2016.
 
|}
 
|}
 +
 
| align=center width="70" |
 
| align=center width="70" |
 
<span class="plainlinks">
 
<span class="plainlinks">
−
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/d/d4/Comert_Yadavari_Altun_Erturk_Reliability_Prediction_of_Electronic_Boards_by_Analyzing_Field_Return_Data.pdf]]</span>
+
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/0/0a/Altun_EtAl_Synthesis_and_Testing_for_Switching_Nano_Crossbar_Arrays.pdf]]</span>
 
<br>
 
<br>
−
[[Media:Comert_Yadavari_Altun_Erturk_Reliability_Prediction_of_Electronic_Boards_by_Analyzing_Field_Return_Data.pdf | Yayın]]
+
[[Media:Altun_EtAl_Synthesis_and_Testing_for_Switching_Nano_Crossbar_Arrays.pdf | Yayın]]
 
| align="center" width="70" |
 
| align="center" width="70" |
 
<span class="plainlinks">
 
<span class="plainlinks">
  
−
[[File:PPT.jpg|60px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/e/eb/Comert_Yadavari_Altun_Erturk_Reliability_Prediction_of_Electronic_Boards_by_Analyzing_Field_Return_Data.pptx]]
+
[[File:PDF.png|65px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/7/7f/Altun_EtAl_Synthesis_and_Performance_Optimization_of_a_Switching_Nano-crossbar_Computer_SLIDES.pdf]]
 
</span>
 
</span>
−
<br> [http://www.ecc.itu.edu.tr/images/e/eb/Comert_Yadavari_Altun_Erturk_Reliability_Prediction_of_Electronic_Boards_by_Analyzing_Field_Return_Data.pptx Sunum]
+
<br> [[Media:Altun_EtAl_Synthesis_and_Performance_Optimization_of_a_Switching_Nano-crossbar_Computer_SLIDES.pdf | Sunum]]
 
|}
 
|}
  
 +
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 +
|
 +
{|
 +
|- valign=top
 +
| width="100" |'''başlık''':
 +
| width="450"|[[Media:Tunali_Altun_Permanent_and_Transient_Fault_Tolerance_for_Reconfigurable_Nano-Crossbar_Arrays.pdf | Permanent and Transient Fault Tolerance for Reconfigurable Nano-Crossbar Arrays]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''yazarlar''':
 +
| Onur Tunali ve [[Mustafa Altun]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''makale''':
 +
| width="450" | [http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=43 IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems], Vol. 36, Issue 5, pp. 747&ndash;760, 2017.
 +
|- valign="top"
 +
| '''bildiri''':
 +
| [http://www.nanoarch.org/ IEEE/ACM International Symposium on Nanoscale Architectures<br> (NANOARCH)], Boston, USA, 2015.
 +
|}
 +
| align=center width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/c/cc/Tunali_Altun_Permanent_and_Transient_Fault_Tolerance_for_Reconfigurable_Nano-Crossbar_Arrays.pdf]]</span>
 +
<br>
 +
[[Media:Tunali_Altun_Permanent_and_Transient_Fault_Tolerance_for_Reconfigurable_Nano-Crossbar_Arrays.pdf | Yayın]]
 +
| align="center" width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
 +
[[File:PPT.jpg|60px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/f/f9/Tunali_Altun_Defect_Tolerance_in_Diode_FET_and_Four-Terminal_Switch_based_Nano-Crossbar_Arrays.pptx]]
 +
</span>
 +
<br> [https://www.ecc.itu.edu.tr/images/f/f9/Tunali_Altun_Defect_Tolerance_in_Diode_FET_and_Four-Terminal_Switch_based_Nano-Crossbar_Arrays.pptx Sunum]
 +
|}
 +
 +
<!--
 +
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 +
 +
|
 +
{|
 +
|- valign=top
 +
| width="100" |'''başlık''':
 +
| width="450"|[[Media:Altun_Riedel_Logic_Synthesis_for_Switching_Lattices.pdf | Logic Synthesis for Switching Lattices]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''yazarlar''':
 +
| [[Mustafa Altun]] ve Marc Riedel
 +
|- valign="top"
 +
| '''makale''':
 +
| [http://www.computer.org/portal/web/tc IEEE Transactions on Computers], <br>Vol. 61, Issue 11, pp. 1588&ndash;1600, 2012.
 +
|- valign="top"
 +
| '''bildiri''':
 +
| [http://www.dac.com Design Automation Conference (DAC)], Anaheim, USA, 2010.
 +
|}
 +
| align=center width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/c/ca/Altun_Riedel_Logic_Synthesis_for_Switching_Lattices.pdf]]</span>
 +
<br>
 +
[[Media:Altun_Riedel_Logic_Synthesis_for_Switching_Lattices.pdf | Yayın]]
 +
| align="center" width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
 +
[[File:PPT.jpg|60px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/2/28/Altun_Riedel_Lattice-Based_Computation_of_Boolean_Functions.ppt]]
 +
</span>
 +
<br> [https://www.ecc.itu.edu.tr/images/2/28/Altun_Riedel_Lattice-Based_Computation_of_Boolean_Functions.ppt Sunum]
 +
|}
 +
-->
 
|}
 
|}
 
| style="border:1px solid transparent;" |
 
| style="border:1px solid transparent;" |
Line 256: Line 466:
 
| width="696" |'''Proje Desteği'''
 
| width="696" |'''Proje Desteği'''
 
|}
 
|}
 +
 +
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 +
 +
|
 +
{|
 +
|- valign="top"
 +
| width="140" |'''başlık''':
 +
| width="558"|Anahtarlamalı Nano-Çaprazlayıcı Bilgisayar Sentezi ve Performans Optimizasyonu
 +
|- valign="top"
 +
| '''kurum & program''':
 +
| [http://ec.europa.eu/research/mariecurieactions/about-msca/actions/rise/index_en.htm Avrupa Birliği/Avrupa Komisyonu H2020 MSCA <br> Araştırma ve Yenilikçilik Değişim Programı (RISE)]
 +
|- valign="top"
 +
| '''bütçe''':
 +
| 724.500 EURO
 +
|- valign="top"
 +
| '''süre''':
 +
| 2015-2019, ''tamamlandı''
 +
|}
 +
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:0.1px solid #abd5ff; background:#f1f5fc; padding:0.2em 0em;"
 +
|- valign="top"
 +
| width="140" |'''proje hedefi''':
 +
| width="558"| Nano-çaprazlayıcı dizinler için komple bir sentez metodolojisi geliştirmek ve basit bilgisayarlar olan durum makineleri gerçeklemek.
 +
 +
|}
 +
|}
 +
 
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
  
Line 262: Line 498:
 
|- valign=top
 
|- valign=top
 
| width="140" |'''başlık''':
 
| width="140" |'''başlık''':
−
| width="558"|Beyaz Eşya Elektronik Kartları için Yüksek Doğruluklu bir Güvenilirlik Analizi Metodolojisi
+
| width="558"|Nano Anahtarlamalı Dizinlerin Sentezi ve Güvenilirlik Analizi
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''kurum & program''':
 
| '''kurum & program''':
−
| [http://www.tubitak.gov.tr/tr/destekler/akademik/ulusal-destek-programlari/icerik-1505-universite-sanayi-isbirligi-destek-programi TÜBİTAK Üniversite-Sanayi İşbirliği Programı (1505)]
+
| [http://www.tubitak.gov.tr/tr/destekler/akademik/ulusal-destek-programlari/icerik-3501-ulusal-genc-arastirmaci-kariyer-gelistirme-programi TÜBİTAK Kariyer Geliştirme Programı (3501)]
 +
|- valign="top"
 +
| '''bütçe''':
 +
| 190.000 TL
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''süre''':
 
| '''süre''':
−
| 2013-2015
+
| 2014-2017, ''tamamlandı''
 
|}
 
|}
−
+
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:0.1px solid #abd5ff; background:#f1f5fc; padding:0.2em 0em;"
 +
|- valign="top"
 +
| width="140" |'''proje hedefi''':
 +
| width="558"| Nano-çaprazlayıcı dizinler için lojik sentezi, hata toleransı ve performans optimizasyonu yapmak.
 +
 
 +
|}
 +
|}
 +
 
 +
|}
 +
|}
 +
|}
 +
 
 +
<!--        STOKASTİK      -->
 +
 
 +
{| id=portal cellspacing="0" cellpadding="0" width=100% style="border:1px solid #B8C7D9; padding:0px;"
 +
|-
 +
| colspan="2" style="background:#8FBC8F; text-align:center; padding:1px; border-bottom:1px #8FBC8F solid;" |
 +
<h2 style="margin:.1em; border-bottom:1px; font-size:140%; font-weight:bold;"> Stokastik Devre Tasarımı </h2>
 +
|-
 +
| valign="top" style="padding:8px 8px 0px 8px; background:#f5fffa;" <!--H210 S4 V100--> |
 +
 
 +
Rastgele veya Binom dağılımlı bit katarlarını işleyen yeni bir hesaplama paradigması “'''Bit Stream Computing (BSC)'''” önerdik. Önerilen paradigma, '''stokastik mantığın alan avantajından ve geleneksel ikili mantığın doğruluk avantajından faydalanmaktadır'''. Asenkron veya senkron olarak sınıflandırılmış tam ve yarı doğru aritmetik çarpıcı ve toplayıcı devreler gerçekledik. Bu çalışmanın, geleneksel ikili ve geleneksel stokastik hesaplama tekniklerine alternatif sunarak '''yeni ufuklar''' açtığına inanıyoruz.
 +
<!-- <h3>
 +
Yüksek Doğruluklu Aritmetik Gerçeklemeler</h3>
 +
 
 +
Stokastik hesaplamanın en önemli sorunu '''düşük doğruluk''' veya bununla ilişkili olarak '''uzun hesaplama süreleridir'''. Bu soruna, bit katarlarını geri besleme mekanizmalarının da yardımıyla manipüle ederek bir çözüm bulduk. Alan, gecikme ve doğruluk parametrelerini göz önüne alarak hatasız çalışan toplayıcı ve çarpıcı devreler gerçekledik.
 +
-->
 +
[[Image:Arastirma_Bit_Stream.png|center|none|800px|link=]]
 +
 
 +
<!--        YAYIN      -->
 +
{| id="mp-upper" style="width: 100%; margin:4px 0 0 0; background:none; border-spacing: 0px;"
 +
| class="MainPageBG" style="width:50%; border:0px solid #D8BFD8; vertical-align:top; color:#000;" |
 +
{| id="mp-left" style="width:100%; vertical-align:top;"
 +
 
 +
|
 +
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#d0e5f5; padding:0.2em 0.5em; font-weight:bold;"
 +
 
 +
|- valign=top
 +
| width="696" |'''Seçilmiş Yayınlar'''
 +
|}
 +
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 +
 
 +
|
 +
{|
 +
|- valign=top
 +
| width="100" |'''başlık''':
 +
| width="450"|[[Media:Vahapoglu_Altun_From_Stochastic_To_Bit_Stream_Computing.pdf | From Stochastic to Bit Stream Computing: Accurate Implementation of Arithmetic Circuits and Applications in Neural Networks]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''yazarlar''':
 +
| Ensar Vahapoglu ve [[Mustafa Altun]]
 +
|- valign=top
 +
| '''makale''':
 +
| arXiv, 1805.06262, 2018.
 +
|- valign=top
 +
| '''bildiri''':
 +
| width="450"| [http://www.eng.ucy.ac.cy/theocharides/isvlsi16/ IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI)], Pittsburgh, USA, 2016.
 +
|}
 +
 
 +
| align=center width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/7/73/Vahapoglu_Altun_From_Stochastic_To_Bit_Stream_Computing.pdf]]</span>
 +
<br>
 +
[[Media:Vahapoglu_Altun_From_Stochastic_To_Bit_Stream_Computing.pdf | Yayın]]
 +
| align="center" width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
 
 +
[[File:PPT.jpg|60px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/d/d6/Vahapoglu_Altun_Accurate_Synthesis_of_Arithmetic_Operations_with_Stochastic_Logic.pptx]]
 +
</span>
 +
<br> [https://www.ecc.itu.edu.tr/images/d/d6/Vahapoglu_Altun_Accurate_Synthesis_of_Arithmetic_Operations_with_Stochastic_Logic.pptx Sunum]
 +
|}
 +
|}
 +
 
 +
| style="border:1px solid transparent;" |
 +
<!--        PROJE      -->
 +
| class="MainPageBG" style="width:50%; border:0px solid #A9A9A9; vertical-align:top;"|
 +
{| id="mp-right" style="width:100%; vertical-align:top;"
 +
 
 +
|
 +
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#d0e5f5; padding:0.2em 0.5em; font-weight:bold;"
 +
 
 +
|- valign=top
 +
| width="696" |'''Proje Desteği'''
 
|}
 
|}
 
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
Line 278: Line 598:
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| width="140" |'''başlık''':
 
| width="140" |'''başlık''':
−
| width="558"|CMOS Tranzistörlerin Geçit Oksidi Kırılmalarının İncelenmesi ve Modellenmesi
+
| width="558"|Yüksek Doğruluklu Stokastik Devre Bloklarının Gerçeklenmesi ve Yazdırılabilir/Esnek Elektronik Sistemlerde Kullanımı
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''kurum & program''':
 
| '''kurum & program''':
−
| [http://www.tubitak.gov.tr/tr/burslar/lisans/burs-programlari/icerik-2209-b-sanayi-odakli-lisans-bitirme-tezi-destekleme-programi TÜBİTAK Sanayi Odaklı Lisans Bitirme Tezi Destekleme Programı (2241/A)]
+
| [http://www.tubitak.gov.tr/tr/destekler/akademik/ulusal-destek-programlari/icerik-1001-bilimsel-ve-teknolojik-arastirma-projelerini-destekleme-pr TÜBİTAK Bilimsel ve Teknolojik Araştırma Projelerini Destekleme Programı (1001)]
 +
|- valign="top"
 +
| '''bütçe''':
 +
| 260.000 TL
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''süre''':
 
| '''süre''':
−
| 2013-2014
+
| 2017-2020, ''tamamlandı''
 +
|}
 +
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:0.1px solid #abd5ff; background:#f1f5fc; padding:0.2em 0em;"
 +
|- valign="top"
 +
| width="140" |'''proje hedefi''':
 +
| width="558"| Stokastik hesaplamada hatayı azaltmak, hatasız aritmetik blokları gerçeklemek ve bu blokları geniş alan elektroniğinde kullanmak.
 +
 
 +
|}
 +
|}
 +
 
 +
<!-- {| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 +
 
 +
|
 +
{|
 +
|- valign=top
 +
| width="140" |'''başlık''':
 +
| width="558"| Stokastik Mantık ile Yüksek Doğruluklu Aritmetik İşlem Bloklarının Kapı ve Transistor Seviyesinde Gerçeklenmesi
 +
|- valign="top"
 +
| '''kurum & program''':
 +
| [http://bap.itu.edu.tr/ İstanbul Teknik Üniversitesi Bilimsel Araştırmalar Programı (İTÜ-BAP)]
 +
|- valign="top"
 +
| '''süre''':
 +
| 2017-2019, ''tamamlandı''
 
|}
 
|}
 
   
 
   
 +
|} -->
 +
|}
 +
|}
 
|}
 
|}
  
 +
 +
<!--        YAKLAŞIK      -->
 +
 +
{| id=portal cellspacing="0" cellpadding="0" width=100% style="border:1px solid #B8C7D9; padding:0px;"
 +
|-
 +
| colspan="2" style="background:#8FBC7F; text-align:center; padding:1px; border-bottom:1px #8FBC7F solid;" |
 +
<h2 style="margin:.1em; border-bottom:1px; font-size:140%; font-weight:bold;"> Yaklaşık Devre ve Sistem Tasarımı </h2>
 +
|-
 +
| valign="top" style="padding:8px 8px 0px 8px; background:#f5fffa;" <!--H210 S4 V100--> |
 +
<!--
 +
<h3>
 +
Güç Verimli Yaklaşık Sistem Tasarım Metodolojisi</h3>
 +
-->
 +
 +
Bu çalışma, '''sistem düzeyinde tasarımın istenen doğrulukta olması için devre düzeyinde tasarımın güç/alan verimliliğini sağlar'''. İlk önce devre seviyesinde yaklaşık hesaplama blokları, genellikle toplayıcılar ve çarpıcılar, tasarladık. Daha sonra sistem seviyesinde, toplam hesaplama maliyetini en aza indiren ancak nihai performansı koruyan yaklaşık hesaplama birimlerini seçen bir yöntem geliştirildi. Yöntem, her bloğun yeterli çıktı kalitesini belirlemek için toplam sistemi en üst seviyeden aritmetik birimlerine kadar araştırmaktadır.
 +
 +
[[Image:Arastirma-yaklasik.png|center|none|800px|link=]]
 +
 +
<!--        YAYIN      -->
 +
{| id="mp-upper" style="width: 100%; margin:4px 0 0 0; background:none; border-spacing: 0px;"
 +
| class="MainPageBG" style="width:50%; border:0px solid #D8BFD8; vertical-align:top; color:#000;" |
 +
{| id="mp-left" style="width:100%; vertical-align:top;"
 +
 +
|
 +
 +
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#d0e5f5; padding:0.2em 0.5em; font-weight:bold;"
 +
 +
|- valign=top
 +
| width="696" |'''Seçilmiş Yayınlar'''
 
|}
 
|}
 +
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 +
|
 +
{|
 +
|- valign=top
 +
| width="100" |'''title''':
 +
| width="450"|[[Media:Nojehdeh_Altun_Approximate_Adders_Multipliers.pdf | Systematic Synthesis of Approximate Adders and Multipliers with Accurate Error Calculations]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''yazarlar''':
 +
| Mohammadreza Nojehdeh ve [[Mustafa Altun]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''makale''':
 +
| width="450" | [http://www.journals.elsevier.com/integration Integration, the VLSI Journal], Vol. 70, pp. 99&ndash;107, 2020.
 +
|- valign=top
 +
| '''bildiri''':
 +
| width="450"| [http://www.eng.ucy.ac.cy/theocharides/isvlsi20/ IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI)], Limassol, Cyprus, 2020.
 
|}
 
|}
 +
| align=center width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/c/c8/Nojehdeh_Altun_Approximate_Adders_Multipliers.pdf]]</span>
 +
<br>
 +
[[Media:Nojehdeh_Altun_Approximate_Adders_Multipliers.pdf | Yayın]]
 +
| align="center" width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
 +
[[File:PPT.jpg|60px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/7/7f/Nojehdeh_Aksoy_Altun_Approximate_ANN.pptx]]
 +
</span>
 +
<br> [https://www.ecc.itu.edu.tr/images/7/7f/Nojehdeh_Aksoy_Altun_Approximate_ANN.pptx Sunum]
 +
|}
 +
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 +
|
 +
{|
 +
|- valign=top
 +
| width="100" |'''başlık''':
 +
| width="450"|[[Media:Ayhan_Altun_Circuit_Aware_Approximate_System_Design.pdf| Circuit Aware Approximate System Design with Case Studies in Image Processing and Neural Networks]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''yazarlar''':
 +
| Tuba Ayhan ve [[Mustafa Altun]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''makale''':
 +
| [http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=6287639 IEEE Access], Vol. 7, pp. 4726&ndash;4734, 2019.
 +
|- valign=top
 +
| '''bildiri''':
 +
| width="450"| [http://www.eng.ucy.ac.cy/theocharides/isvlsi17/ IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI)], Bochum, Germany, 2017.
 
|}
 
|}
  
−
<!--        QUANTUM      -->
+
| align=center width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/9/90/Ayhan_Altun_Circuit_Aware_Approximate_System_Design.pdf]]</span>
 +
<br>
 +
[[Media:Ayhan_Altun_Circuit_Aware_Approximate_System_Design.pdf | Yayın]]
 +
| align="center" width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
  
 +
[[File:PPT.jpg|60px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/8/86/Ayhan_Kula_Altun_Approximate_System_Design_Methodology.pptx]]
 +
</span>
 +
<br> [https://www.ecc.itu.edu.tr/images/8/86/Ayhan_Kula_Altun_Approximate_System_Design_Methodology.pptx Sunum]
 +
|}
 +
 +
|}
 +
 +
| style="border:1px solid transparent;" |
 +
<!--        PROJE      -->
 +
| class="MainPageBG" style="width:50%; border:0px solid #A9A9A9; vertical-align:top;"|
 +
{| id="mp-right" style="width:100%; vertical-align:top;"
 +
 +
|
 +
 +
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#d0e5f5; padding:0.2em 0.5em; font-weight:bold;"
 +
 +
|- valign=top
 +
| width="696" |'''Proje Desteği'''
 +
|}
 +
 +
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 +
 +
|
 +
{|
 +
|- valign="top"
 +
| width="140" |'''başlık''':
 +
| width="558"|Yaklaşık Hesaplama Yapabilen Yeniden Yapılandırılabilir Devre ve Sistemlerin Tasarımı ve Öğrenme İçeren Görüntü İşleme Uygulamalarında Kullanılması
 +
|- valign="top"
 +
| '''kurum & program''':
 +
| [http://www.tubitak.gov.tr/tr/destekler/akademik/ulusal-destek-programlari/icerik-1001-bilimsel-ve-teknolojik-arastirma-projelerini-destekleme-pr TÜBİTAK Bilimsel ve Teknolojik Araştırma Projelerini Destekleme Programı (1001)]
 +
|- valign="top"
 +
| '''bütçe''':
 +
| 230.000 TL
 +
|- valign="top"
 +
| '''süre''':
 +
| 2018-2020, ''tamamlandı''
 +
|}
 +
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:0.1px solid #abd5ff; background:#f1f5fc; padding:0.2em 0em;"
 +
|- valign="top"
 +
| width="140" |'''proje hedefi''':
 +
| width="558"| Sistemden istenen doğruluk veya kalite seviyesine bağlı olarak her devre bloğunun gerekli doğruluk performansını belirleyerek minimum güç/enerji tüketimi için en uygun çözümleri hiyerarşik bir yaklaşımla bulmak.
 +
|}
 +
|}
 +
|}
 +
|}
 +
|}
 +
 +
<!--        QUANTUM      -->
  
 
{| id=portal cellspacing="0" cellpadding="0" width=100% style="border:1px solid #B8C7D9; padding:0px;"
 
{| id=portal cellspacing="0" cellpadding="0" width=100% style="border:1px solid #B8C7D9; padding:0px;"
 
|-
 
|-
−
| colspan="2" style="background:#8FBCAF; text-align:center; padding:1px; border-bottom:1px #8FBCAF solid;" |
+
| colspan="2" style="background:#8FBC6F; text-align:center; padding:1px; border-bottom:1px #8FBC6F solid;" |
−
<h2 style="margin:.1em; border-bottom:1px; font-size:140%; font-weight:bold;"> Tersinir Devre Tasarımı </h2>
+
<h2 style="margin:.1em; border-bottom:1px; font-size:140%; font-weight:bold;"> Tersinir Hesaplama</h2>
 
|-
 
|-
 
| valign="top" style="padding:8px 8px 0px 8px; background:#f5fffa;" <!--H210 S4 V100--> |
 
| valign="top" style="padding:8px 8px 0px 8px; background:#f5fffa;" <!--H210 S4 V100--> |
 +
 +
Geleneksel CMOS devrelerinden farklı olarak, tersinir devreler gizli hatalara sahip değildir, bu nedenle dahili devre düğümlerinde meydana gelen hatalar her zaman çıkışta bir hataya neden olur. Bu, çevrimiçi veya eşzamanlı hata toleransı için eşsiz bir özelliktir. Bu durumdan hareketle, tersinir hesaplamayı kullanarak hataya dayanıklı CMOS devre blokları gerçekliyoruz. Öncelikle tersinir kapılarla tersinir devreler sentezliyoruz; sonra onları hataya dayanıklı hale getiriyoruz; ve son olarak tersinir kapılardan CMOS kapılara dönüşümü yapıyoruz.
 +
 +
[[Image:Research-reversible_tr-3.png|center|none|800px|link=]]
  
 
<h3>
 
<h3>
−
Sentez ve Optimizasyon</h3>
 
  
−
Tersinir Boolean fonksiyonları kuantum kapılar ile gerçekleyen hızlı bir algoritma önerdik. Önerdiğimiz algoritma, her bir fonksiyon için zaman alıcı bir arama yapmak yerine '''temel fonksiyonları''' kullanmaktadır ve sonrasında '''sıralama''' yapmaktadır. Örnek vermek gerekirse, toplamda 20922789888000 fonksiyonun olduğu 4 bit devrelerdeki temel fonksiyon sayısı yalnızca 120'dir.  
+
Mükemmel Hata Tespiti</h3>
−
+
 
−
Kuantum kapıların fiziksel yapılarını incelediğimizde, literatürde optimum alan olarak sunulan çözümlerin '''aslında optimum olmadığını''' gösterdik ve bu çözümleri iyileştirdik.
+
Tersinir hesaplamadan yararlanarak % '''100 çevrimiçi veya eşzamanlı hata tespitine sahip CMOS devreleri''' sentezledik. Bu amaç için tersinir parite korunumlu bir kapı kütüphanesi önerdik.
 +
<!-- <h3>
 +
 
 +
Sentez</h3>
 +
 
 +
Tersinir Boolean fonksiyonları kuantum kapılar ile gerçekleyen hızlı bir algoritma önerdik. Önerdiğimiz algoritma, her bir fonksiyon için zaman alıcı bir arama yapmak yerine '''temel fonksiyonları''' kullanmaktadır ve sonrasında '''sıralama''' yapmaktadır. Örnek vermek gerekirse, toplamda 20922789888000 fonksiyonun olduğu 4 bit devrelerdeki temel fonksiyon sayısı yalnızca 120'dir. Buna ek olarak, komşu kapı çiftlerini göz önüne alarak '''tersinir ve kuantum devre masraflarını''' optimize ettik.
 +
-->
 +
<h3>
 +
 
 +
Çevrimiçi Hata Tespiti ve Düzeltme </h3>
  
−
[[Image:Arastirma-4.png|center|none|800px|link=]]
+
Çoklu kontrol Toffoli kapılarını kullanarak tersine çevrilebilir bir devrede hataya dayanıklı hale getirmek için iki teknik geliştiriyoruz. İlk
 +
olarak, '''tek parite korumasına dayanan''' ve çıktıdaki tek sayıdaki hataları tespit edebilen bir teknik geliştirdik. İkinci teknik ise '''Hamming kodları''' üzerine inşa edilen bir hata düzeltme tekniğidir. Aynı zamanda, Fredkin kapısı gibi korunumlu tersinir kapılarla mükemmel hata tespitinin mümkün olduğunu gösterdik. Bir sonraki adım olarak, önerilen '''tersinir devreleri geleneksel CMOS kapılarından oluşan devrelere''' dönüştürdük.
  
 +
<!--  [[Image:Arastirma-4.png|center|none|800px|link=]]  -->
 
<!--        YAYIN      -->
 
<!--        YAYIN      -->
 
{| id="mp-upper" style="width: 100%; margin:4px 0 0 0; background:none; border-spacing: 0px;"
 
{| id="mp-upper" style="width: 100%; margin:4px 0 0 0; background:none; border-spacing: 0px;"
Line 324: Line 811:
 
| width="696" |'''Seçilmiş Yayınlar'''
 
| width="696" |'''Seçilmiş Yayınlar'''
 
|}
 
|}
 +
 
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 +
 +
|
 +
{|
 +
|- valign=top
 +
| width="100" |'''başlık''':
 +
| width="450"|[[Media:Parvin_Altun_Perfect_Concurrent_Fault_Detection.pdf| Perfect Concurrent Fault Detection in CMOS Logic Circuits Using Parity Preservative Reversible Gates]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''yazarlar''':
 +
| Sajjad Parvin ve [[Mustafa Altun]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''makale''':
 +
| [http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=6287639 IEEE Access], Vol. 7, pp. 163939&ndash;163947, 2019.
 +
|- valign=top
 +
| '''bildiri''':
 +
| width="450"| [http://tima.univ-grenoble-alpes.fr/conferences/iolts/iolts19/ IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)], Rhodes Island, Greece, 2019.
 +
|}
 +
 +
| align=center width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/3/3c/Parvin_Altun_Perfect_Concurrent_Fault_Detection.pdf]]</span>
 +
<br>
 +
[[Media:Parvin_Altun_Perfect_Concurrent_Fault_Detection.pdf | Yayın]]
 +
| align="center" width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
 +
[[File:PPT.jpg|60px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/f/f4/Parvin_Altun_CMOS_Fault_Tolerance_with_Preservative_Reversible_Gates.pptx]]
 +
</span>
 +
<br> [https://www.ecc.itu.edu.tr/images/f/f4/Parvin_Altun_CMOS_Fault_Tolerance_with_Preservative_Reversible_Gates.pptx Sunum]
 +
|}
 +
 +
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 +
|
 +
{|
 +
|- valign=top
 +
| width="100" |'''başlık''':
 +
| width="524"|[[Media:Altun_Parvin_Cilasun_Exploiting_Reversible_Computing_for_CMOS_Fault_Tolerance.pdf| Exploiting Reversible Computing for Latent-Fault-Free Error Detecting/Correcting CMOS Circuits
 +
]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''yazarlar''':
 +
| [[Mustafa Altun]], Sajjad Parvin, and Husrev Cilasun
 +
|- valign="top"
 +
| '''makale''':
 +
| width="524" | [http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=6287639 IEEE Access], Vol. 6, pp. 74475&ndash;74484, 2018.
 +
|}
 +
| align=center width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/7/7d/Altun_Parvin_Cilasun_Exploiting_Reversible_Computing_for_CMOS_Fault_Tolerance.pdf]]</span>
 +
<br>
 +
[[Media:Altun_Parvin_Cilasun_Exploiting_Reversible_Computing_for_CMOS_Fault_Tolerance.pdf | Yayın]]
 +
|}
 +
<!-- {| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
  
 
|
 
|
Line 330: Line 869:
 
|- valign=top
 
|- valign=top
 
| width="100" |'''başlık''':
 
| width="100" |'''başlık''':
−
| width="450"|[[Media:Susam_Altun_An_Efficient_Algorithm_to_Synthesize_Quantum_Circuits_and_Optimization.pdf | An Efficient Algorithm to Synthesize Quantum Circuits and Optimization]]
+
| width="450"|[[Media:Susam_Altun_Fast_Synthesis_of_Reversible_Circuits_using_a_Sorting_Algorithm_and_Optimization.pdf| Fast Synthesis of Reversible Circuits using a Sorting Algorithm and Optimization]]
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''yazarlar''':
 
| '''yazarlar''':
 
| Ömercan Susam ve [[Mustafa Altun]]
 
| Ömercan Susam ve [[Mustafa Altun]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''makale''':
 +
| width="450"| [http://www.oldcitypublishing.com/journals/mvlsc-home/ Journal of Multiple-Valued Logic and Soft Computing], Vol. 29, Issue 1-2, pp. 1&ndash;23, 2017.
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''bildiri''':
 
| '''bildiri''':
−
| [http://www.ieee-icecs2014.org/ IEEE International Conference on Electronics Circuits and Systems],<br> Marseille, France, 2014.
+
| [http://www.ieee-icecs2014.org/ IEEE International Conference on Electronics Circuits and Systems<br> (ICECS)], Marseille, France, 2014.
 
|}
 
|}
 
| align=center width="70" |
 
| align=center width="70" |
 
<span class="plainlinks">
 
<span class="plainlinks">
−
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/7/71/Susam_Altun_An_Efficient_Algorithm_to_Synthesize_Quantum_Circuits_and_Optimization.pdf]]</span>
+
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/c/cd/Susam_Altun_Fast_Synthesis_of_Reversible_Circuits_using_a_Sorting_Algorithm_and_Optimization.pdf]]</span>
 
<br>
 
<br>
−
[[Media:Susam_Altun_An_Efficient_Algorithm_to_Synthesize_Quantum_Circuits_and_Optimization.pdf | Yayın]]
+
[[Media:Susam_Altun_Fast_Synthesis_of_Reversible_Circuits_using_a_Sorting_Algorithm_and_Optimization.pdf | Yayın]]
 
| align="center" width="70" |
 
| align="center" width="70" |
 
<span class="plainlinks">
 
<span class="plainlinks">
  
−
[[File:PPT.jpg|60px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/d/d0/Susam_Altun_An_Efficient_Algorithm_to_Synthesize_Quantum_Circuits_and_Optimization.pptx]]
+
[[File:PPT.jpg|60px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/d/d0/Susam_Altun_An_Efficient_Algorithm_to_Synthesize_Quantum_Circuits_and_Optimization.pptx]]
 
</span>
 
</span>
−
<br> [http://www.ecc.itu.edu.tr/images/d/d0/Susam_Altun_An_Efficient_Algorithm_to_Synthesize_Quantum_Circuits_and_Optimization.pptx Sunum]
+
<br> [https://www.ecc.itu.edu.tr/images/d/d0/Susam_Altun_An_Efficient_Algorithm_to_Synthesize_Quantum_Circuits_and_Optimization.pptx Sunum]
 
|}
 
|}
−
 
+
-->
 
|}
 
|}
  
Line 366: Line 908:
 
|}
 
|}
 
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 +
 +
|
 +
{|
 +
|- valign="top"
 +
| width="140" |'''başlık''':
 +
| width="558"| Hata Farkındalıklı 8-bitlik bir Tersinir Mikroişlemci Gerçeklemesi
 +
|- valign="top"
 +
| '''kurum & program''':
 +
| [http://www.tubitak.gov.tr/tr/destekler/akademik/ulusal-destek-programlari/icerik-1002-hizli-destek-programi TÜBİTAK Hızlı Destek Programı (1002)]
 +
|- valign="top"
 +
| '''bütçe''':
 +
| 30.000 TL
 +
|- valign="top"
 +
| '''süre''':
 +
| 2016-2017, ''tamamlandı''
 +
|}
 +
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:0.1px solid #abd5ff; background:#f1f5fc; padding:0.2em 0em;"
 +
|- valign="top"
 +
| width="140" |'''proje hedefi''':
 +
| width="558"| Çevrimiçi hataları tespit edebilen tersinir devreleri ve bunların CMOS devre karşılıklarını gerçeklemek.
 +
 +
|}
 +
|}
 +
<!--{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
  
 
|
 
|
Line 377: Line 943:
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''süre''':
 
| '''süre''':
−
| 2014-2015
+
| 2014-2015, ''tamamlandı''
 
|}
 
|}
 
   
 
   
 +
|}-->
 +
 +
|}
 +
|}
 +
|}
 +
 +
<!--        RELIABILITY    -->
 +
 +
{| id=portal cellspacing="0" cellpadding="0" width=100% style="border:1px solid #B8C7D9; padding:0px;"
 +
|-
 +
| colspan="2" style="background:#8FBC5F; text-align:center; padding:1px; border-bottom:1px #8FBC5F solid;" |
 +
<h2 style="margin:.1em; border-bottom:1px; font-size:140%; font-weight:bold;"> Elektronik Ürünlerin Güvenilirliği </h2>
 +
|-
 +
| valign="top" style="padding:8px 8px 0px 8px; background:#f5fffa;" <!--H210 S4 V100--> |
 +
 +
Elektronik sektöründe yaşanan baş döndürücü gelişmeler, elektronik devre ve sistemlerin güvenilirliği kavramını yeniden şekillendirmiştir. Elektronik ürünlerin günümüzdeki hızlı üretim döngüleri, uzun süreli ve masraflı olan geleneksel hızlandırılmış testlerin öneminin azalmasına neden olmuştur. Biz bu çalışmada görece masrafsız ve yüksek doğruluklu bir güvenilirlik analizi metodolojisi önerdik.  Bu noktada saha verileri, yeni hızlandırılmış testler ve hata fiziği tabanlı benzetimlerden yararlandık. Çalışmalarımız Avrupa'nın en büyük ev aletleri ve beyaz eşya üreticilerinden biri olan [http://www.arcelik.com.tr/ Arçelik A.Ş.] ile birlikte yürütülmüştür.
 +
 +
[[Image:Arastirma-3.png|center|none|800px|link=]]
 +
 +
<h3>
 +
Saha Verileri ile Güvenilirlik Analizi ve Tahmini</h3>
 +
 +
Yüksek miktarda üretilen elektronik ürünler için saha arıza verileri ile güvenilirlik tahmin modeli geliştirdik. Modelimizi, önerdiğimiz değişim noktası tespit metodunu kullanarak Weibul-eksponansiyel dağılımı üzerine inşa ettik.
 +
Modelimiz, elektronik kartların '''kısa süreli saha verilerini''' kullanarak, garanti süresi içerisindeki güvenilirlik performanslarını '''yüksek doğrulukta tahmin''' etmektedir. Bu çalışmada kullandığımız kartların garanti süresi '''3 yıldır''' ve kullandığımız veri seti '''3 aylıktır'''.
 +
 +
<h3>
 +
Varistörlerin Bozunum Prosesleri</h3>
 +
 +
ZnO varistörlerde görülen değişik bozunum mekanizmalarını inceledik. Varistör voltajı Vv'nin değişik stres seviyelerinde nasıl değiştiğini modelledik. Bu amaç için, değişik AC akımlar kullanarak hızlandırılmış testler uyguladık ve Vv değerlerini ölçtük. Literatürdeki genel kanının aksine sadece '''düşen Vv değerleri''' değil, '''yükselen Vv değerleri''' de gözlemledik.
 +
<!--
 +
<h3>
 +
Kalibreli Hızlandırılmış Testler</h3>
 +
 +
Elektronik ürünlerin hata oranlarındaki önemli azalma, geleneksel '''ALT''' (accelerated life tests) kullanımını oldukça masraflı ve zaman alıcı bir hale getirmiştir. Bu aşamada yeni bir test metodolojisi olan '''CALT''' (calibrated accelerated life tests) önerilmiştir. Bu çalışmada, ALT ve CALT testlerini detaylı olarak karşılaştırdık; hata oranı, hızlandırma faktörü ve stres seviyesinin test süresine olan etkilerini inceledik.
 +
-->
 +
<!--        YAYIN      -->
 +
{| id="mp-upper" style="width: 100%; margin:4px 0 0 0; background:none; border-spacing: 0px;"
 +
| class="MainPageBG" style="width:50%; border:0px solid #D8BFD8; vertical-align:top; color:#000;" |
 +
{| id="mp-left" style="width:100%; vertical-align:top;"
 +
 +
|
 +
 +
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#d0e5f5; padding:0.2em 0.5em; font-weight:bold;"
 +
 +
|- valign=top
 +
| width="696" |'''Seçilmiş Yayınlar'''
 +
|}
 +
 +
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 +
 +
|
 +
{|
 +
|- valign=top
 +
| width="100" |'''başlık''':
 +
| width="450"|[[Media:Altun_Comert_A_Change-Point_based_Reliability_Prediction_Model_using_Field_Return_Data.pdf| A Change-Point based Reliability Prediction Model using Field Return Data]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''yazarlar''':
 +
| [[Mustafa Altun]] ve Vehbi Comert
 +
|- valign=top
 +
| '''makale''':
 +
| width="450"| [http://www.journals.elsevier.com/reliability-engineering-and-system-safety Reliability Engineering and System Safety], Vol. 156, pp. 175&ndash;184, 2016.
 +
|- valign=top
 +
| '''bildiri''':
 +
| [http://rams.org/ Reliability and Maintainability Symposium (RAMS)], <br> Palm Harbor, USA, 2015.
 +
|}
 +
 +
| align=center width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/1/16/Altun_Comert_A_Change-Point_based_Reliability_Prediction_Model_using_Field_Return_Data.pdf]]</span>
 +
<br>
 +
[[Media:Altun_Comert_A_Change-Point_based_Reliability_Prediction_Model_using_Field_Return_Data.pdf | Yayın]]
 +
| align="center" width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
 +
[[File:PPT.jpg|60px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/a/a7/Comert_Altun_Nadar_Erturk_Warranty_Forecasting_of_Electronic_Boards_using_Short-term_Field_Data.pptx]]
 +
</span>
 +
<br> [https://www.ecc.itu.edu.tr/images/a/a7/Comert_Altun_Nadar_Erturk_Warranty_Forecasting_of_Electronic_Boards_using_Short-term_Field_Data.pptx Sunum]
 +
|}
 +
 +
{| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 +
 +
|
 +
{|
 +
|- valign=top
 +
| width="100" |'''başlık''':
 +
| width="450"|[[Media: Yadavari_Altun_Distinct_Degradation_Processes_in_ZnO_varistors.pdf | Distinct Degradation Processes in ZnO Varistors: Reliability Analysis and Modeling with Accelerated AC Tests]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''yazarlar''':
 +
| Hadi Yadavari ve [[Mustafa Altun]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''makale''':
 +
| width="450"| [http://journals.tubitak.gov.tr/elektrik/index.htm;jsessionid=848207EBE52EFE10C78B78C76A0FEAD9 Turkish Journal of Electrical Engineering and Computer Sciences], Vol. 25, No.4, pp. 3240&ndash;3252, 2017.
 +
|- valign=top
 +
| '''bildiri''':
 +
| width="450"| [http://esrel2015.ethz.ch/ European Safety and Reliability Conference (ESREL)], Zurich, Switzerland, 2015.
 +
|}
 +
| align=center width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/d/dd/Yadavari_Altun_Distinct_Degradation_Processes_in_ZnO_varistors.pdf]]</span>
 +
<br>
 +
[[Media:Yadavari_Altun_Distinct_Degradation_Processes_in_ZnO_varistors.pdf | Yayın]]
 +
| align="center" width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
 +
[[File:PPT.jpg|60px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/d/de/Yadavari_EtAl_Effects_of_ZnO_Varistor_Degradation_on_the_Overvoltage_Protection_Mechanism_of_Electronic_Boards.pptx]]
 +
</span>
 +
<br> [https://www.ecc.itu.edu.tr/images/d/de/Yadavari_EtAl_Effects_of_ZnO_Varistor_Degradation_on_the_Overvoltage_Protection_Mechanism_of_Electronic_Boards.pptx Sunum]
 +
|}
 +
 +
<!-- {| style="border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 +
 +
|
 +
{|
 +
|- valign=top
 +
| width="100" |'''başlık''':
 +
| width="450"|[[Media:Sal_Altun_Extensive_Investigation_of_CALT_in_Comparison_with_ALT.pdf | Extensive Investigation of Calibrated Accelerated Life Testing (CALT) in Comparison with Classical Accelerated Life Testing (ALT)]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''yazarlar''':
 +
| Burak Sal ve [[Mustafa Altun]]
 +
|- valign="top"
 +
| '''bildiri''':
 +
| [http://esrel2015.ethz.ch/ European Safety and Reliability Conference (ESREL)],<br> Zurich, Switzerland, 2015.
 +
|}
 +
| align=center width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
[[File:PDF.png|65px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/0/07/Sal_Altun_Extensive_Investigation_of_CALT_in_Comparison_with_ALT.pdf]]</span>
 +
<br>
 +
[[Media:Sal_Altun_Extensive_Investigation_of_CALT_in_Comparison_with_ALT.pdf | Yayın]]
 +
| align="center" width="70" |
 +
<span class="plainlinks">
 +
 +
[[File:PPT.jpg|60px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/a/a8/Sal_Altun_Extensive_Investigation_of_CALT_in_Comparison_with_ALT.pptx]]
 +
</span>
 +
<br> [https://www.ecc.itu.edu.tr/images/a/a8/Sal_Altun_Extensive_Investigation_of_CALT_in_Comparison_with_ALT.pptx Sunum]
 +
|} -->
 +
|}
 +
| style="border:1px solid transparent;" |
 +
<!--        PROJE      -->
 +
| class="MainPageBG" style="width:50%; border:0px solid #A9A9A9; vertical-align:top;"|
 +
{| id="mp-right" style="width:100%; vertical-align:top;"
 +
|
 +
 +
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#d0e5f5; padding:0.2em 0.5em; font-weight:bold;"
 +
 +
|- valign=top
 +
| width="696" |'''Proje Desteği'''
 
|}
 
|}
 
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
 +
 +
|
 +
{|
 +
|- valign=top
 +
| width="140" |'''başlık''':
 +
| width="558"|Beyaz Eşya Elektronik Kartları için Yüksek Doğruluklu bir Güvenilirlik Analizi Metodolojisi
 +
|- valign="top"
 +
| '''kurum & program''':
 +
| [http://www.tubitak.gov.tr/tr/destekler/akademik/ulusal-destek-programlari/icerik-1505-universite-sanayi-isbirligi-destek-programi TÜBİTAK Üniversite-Sanayi İşbirliği Programı (1505)]
 +
|- valign="top"
 +
| '''bütçe''':
 +
| 210.000 TL
 +
|- valign="top"
 +
| '''süre''':
 +
| 2013-2015, ''tamamlandı''
 +
|}
 +
{| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:0.1px solid #abd5ff; background:#f1f5fc; padding:0.2em 0em;"
 +
|- valign="top"
 +
| width="140" |'''proje hedefi''':
 +
| width="558"| Elektronik kartlar için saha geri dönüş verilerini, yeni hızlandırılmış test metodolojilerini ve hata bazlı simülasyonların fiziğini kullanarak güvenilirlik tahmin tekniklerini geliştirmek.
 +
|}
 +
|}
 +
<!-- {| style="margin-left: auto; margin-right: 0px; border:1px solid #abd5f5; background:#f1f5fc;"
  
 
|
 
|
Line 387: Line 1,122:
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| width="140" |'''başlık''':
 
| width="140" |'''başlık''':
−
| width="558"|Kuantum Devre Sentezi
+
| width="558"|CMOS Tranzistörlerin Geçit Oksidi Kırılmalarının İncelenmesi ve Modellenmesi
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''kurum & program''':
 
| '''kurum & program''':
−
| [http://tubitak.gov.tr/tr/burslar/lisansustu/egitim-burs-programlari/icerik-2211-yurt-ici-lisansustu-burs-programi TÜBİTAK Öncelikli Alanlara Yönelik Yurtiçi Yüksek Lisans Burs Programı (2210/C)]
+
| [http://www.tubitak.gov.tr/tr/burslar/lisans/burs-programlari/icerik-2209-b-sanayi-odakli-lisans-bitirme-tezi-destekleme-programi TÜBİTAK Sanayi Odaklı Lisans Bitirme Tezi Destekleme Programı (2241/A)]
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''süre''':
 
| '''süre''':
−
| 2014-2015
+
| 2013-2014, ''tamamlandı''
 
|}
 
|}
 
   
 
   
−
|}
+
|} -->
 +
 
 
|}
 
|}
 
|}
 
|}
Line 406: Line 1,142:
 
{| id=portal cellspacing="0" cellpadding="0" width=100% style="border:1px solid #B8C7D9; padding:0px;"
 
{| id=portal cellspacing="0" cellpadding="0" width=100% style="border:1px solid #B8C7D9; padding:0px;"
 
|-
 
|-
−
| colspan="2" style="background:#8FBC9F; text-align:center; padding:1px; border-bottom:1px #8FBC9F solid;" |
+
| colspan="2" style="background:#8FBC4F; text-align:center; padding:1px; border-bottom:1px #8FBC4F solid;" |
 
<h2 style="margin:.1em; border-bottom:1px; font-size:140%; font-weight:bold;"> Analog Devre Tasarımı </h2>
 
<h2 style="margin:.1em; border-bottom:1px; font-size:140%; font-weight:bold;"> Analog Devre Tasarımı </h2>
 
|-
 
|-
Line 413: Line 1,149:
 
<h3>
 
<h3>
 
Pozitif Geribesleme</h3>
 
Pozitif Geribesleme</h3>
−
Geleneksel olarak analog devreler pozitif geribesleme çevrimleri içermemelidirler. Aykırı gözükse de, biz bu çalışmada akım kuvvetlendiricilerin giriş empedanslarını '''pozitif geribesleme''' kullanarak başarıyla iyileştirdik. Ek olarak yeni bir tamamen farksal akım kuvvetlendirici devresi önerdik ve bu devreyi filtre uygulamalarında test ettik.  
+
Geleneksel olarak analog devreler pozitif geribesleme çevrimleri içermemelidirler. Aykırı gözükse de, biz bu çalışmada akım kuvvetlendiricilerin giriş empedanslarını '''pozitif geribesleme''' kullanarak başarıyla iyileştirdik. Ek olarak yeni bir tamamen farksal akım kuvvetlendirici devresi önerdik ve bu devreyi filtre uygulamalarında test ettik.
  
 
<!--        YAYIN      -->
 
<!--        YAYIN      -->
Line 436: Line 1,172:
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''yazarlar''':
 
| '''yazarlar''':
−
| [[Mustafa Altun]] ve [http://web.itu.edu.tr/~kuntman/ Hakan Kuntman]
+
| [[Mustafa Altun]] ve Hakan Kuntman
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''makale''':
 
| '''makale''':
Line 452: Line 1,188:
 
<span class="plainlinks">
 
<span class="plainlinks">
  
−
[[File:PPT.jpg|60px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/7/77/Altun_Kuntman_A_Wideband_CMOS_Current-Mode_Operational_Amplifier_and_Its_Use_for_Band-Pass_Filter_Realization.ppt]]
+
[[File:PPT.jpg|60px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/7/77/Altun_Kuntman_A_Wideband_CMOS_Current-Mode_Operational_Amplifier_and_Its_Use_for_Band-Pass_Filter_Realization.ppt]]
 
</span>
 
</span>
−
<br> [http://www.ecc.itu.edu.tr/images/7/77/Altun_Kuntman_A_Wideband_CMOS_Current-Mode_Operational_Amplifier_and_Its_Use_for_Band-Pass_Filter_Realization.ppt Sunum]
+
<br> [https://www.ecc.itu.edu.tr/images/7/77/Altun_Kuntman_A_Wideband_CMOS_Current-Mode_Operational_Amplifier_and_Its_Use_for_Band-Pass_Filter_Realization.ppt Sunum]
 
|}
 
|}
  
Line 469: Line 1,205:
 
{| id=portal cellspacing="0" cellpadding="0" width=100% style="border:1px solid #B8C7D9; padding:0px;"
 
{| id=portal cellspacing="0" cellpadding="0" width=100% style="border:1px solid #B8C7D9; padding:0px;"
 
|-
 
|-
−
| colspan="2" style="background:#8FBC8F; text-align:center; padding:1px; border-bottom:1px #8FBC8F solid;" |
+
| colspan="2" style="background:#8FBC3F; text-align:center; padding:1px; border-bottom:1px #8FBC3F solid;" |
 
<h2 style="margin:.1em; border-bottom:1px; font-size:140%; font-weight:bold;"> Ayrık Matematik </h2>
 
<h2 style="margin:.1em; border-bottom:1px; font-size:140%; font-weight:bold;"> Ayrık Matematik </h2>
 
|-
 
|-
Line 477: Line 1,213:
 
"Self Duality" Problemi </h3>
 
"Self Duality" Problemi </h3>
  
−
IDNF (irredundant disjuntive normal form) formundaki monoton bir Boolean fonksiyonun self-dual olup olmadığının zaman karmaşıklığında belirlenmesi, matematikte '''çözülememiş önemli problemlerden''' biridir. Bu çalışma bu ünlü problem üzerinedir. Biz bu çalışmada IDNF formundaki monoton Boolean fonksiyonların değişken sayısının çarpım (disjunct) sayısından fazla olamayacağını gösterdik. Ayrıca ''n'' sayıda çarpım ve ''n'' sayıda değişken içeren IDNF formundaki monoton Boolean fonksiyonların, self-dual olup olmadığını bulan bir algoritma geliştirdik. Algoritmanın zaman karmaşıklığı O(n^3)'dür.
+
IDNF (irredundant disjuntive normal form) formundaki monoton bir Boolean fonksiyonun self-dual olup olmadığının zaman karmaşıklığında belirlenmesi, matematikte '''çözülememiş önemli problemlerden''' biridir. Bu çalışma bu ünlü problem üzerinedir. Biz bu çalışmada IDNF formundaki monoton Boolean fonksiyonların değişken sayısının çarpım (disjunct) sayısından fazla olamayacağını gösterdik. Ayrıca ''n'' sayıda çarpım ve ''n'' sayıda değişken içeren IDNF formundaki monoton Boolean fonksiyonların, self-dual olup olmadığını bulan bir algoritma geliştirdik. Algoritmanın zaman karmaşıklığı O(n^3)'dür.  
 
<!--        YAYIN      -->
 
<!--        YAYIN      -->
 
{| id="mp-upper" style="width: 100%; margin:4px 0 0 0; background:none; border-spacing: 0px;"
 
{| id="mp-upper" style="width: 100%; margin:4px 0 0 0; background:none; border-spacing: 0px;"
Line 499: Line 1,235:
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''yazarlar''':
 
| '''yazarlar''':
−
| [[Mustafa Altun]] ve [http://cadbio.com/wiki/index.php/Marc_Riedel Marc Riedel]
+
| [[Mustafa Altun]] ve Marc Riedel
 
|- valign="top"
 
|- valign="top"
 
| '''makale''':
 
| '''makale''':
−
| ..., 2014.
+
| width="450"| [http://www.springer.com/mathematics/applications/journal/10255 Acta Mathematicae Applicatae Sinica - English Series], Vol. 33, Issue 1, pp. 43&ndash;52, 2017
 
|}
 
|}
 
| align=center width="70" |
 
| align=center width="70" |
Line 512: Line 1,248:
 
<span class="plainlinks">
 
<span class="plainlinks">
  
−
[[File:PPT.jpg|60px|link=http://www.ecc.itu.edu.tr/images/1/18/Altun_Riedel_A_Study_on_Monotone_Self_Dual_Boolean_Functions.ppt]]
+
[[File:PPT.jpg|60px|link=https://www.ecc.itu.edu.tr/images/1/18/Altun_Riedel_A_Study_on_Monotone_Self_Dual_Boolean_Functions.ppt]]
 
</span>
 
</span>
−
<br> [http://www.ecc.itu.edu.tr/images/1/18/Altun_Riedel_A_Study_on_Monotone_Self_Dual_Boolean_Functions.ppt Sunum]
+
<br> [https://www.ecc.itu.edu.tr/images/1/18/Altun_Riedel_A_Study_on_Monotone_Self_Dual_Boolean_Functions.ppt Sunum]
 
|}
 
|}
  

Latest revision as of 22:20, 17 April 2023

Araştırmalarımızın amacı, elektronik devre ve sistemler için hesaplama, devre tasarımı ve güvenilirlik konularında yeni yaklaşımlar geliştirmektir. Araştırmalarımız temelde yeni ve gelişen teknolojileri ve hesaplama düzenlerini hedef almaktadır. Aşağıda en yeniden en eskiye ve önem sırasına göre sıralanan araştırma konuları yer almaktadır. Her konu kısaca anlatılmış ve ilgili yayın ve projeler eklenmiştir.

Contents

Anahtarlamalı Kafesler ile Hesaplama

Dört uçlu anahtarlardan oluşan iki boyutlu bir ağ olarak oluşturulan anahtarlamalı kafes, lojik hesaplama için düzenli, yoğun, alan verimli ve CMOS uyumlu bir yapı olarak sunulmuştur. Kafesin her bir bölümü dört uçlı bir anahtardır ve bir kontrol girişine ve dört terminale sahiptir. Kontrol girişi, tüm terminallerinin bağlantılarını keser (KAPALI) veya tümünün bağlı (AÇIK) olmasını sağlar.

Arastirma lattice logic.png

Teknoloji Geliştirme

Anahtarlamalı kafeslerinin CMOS uyumlu olduğunu gösterdik. Bu amaçla, farklı dört uçlu anahtar yapıları önerdik; bunları üç boyutlu teknoloji bilgisayar destekli tasarım (TCAD) ortamında, TSMC 65nm CMOS prosesinin tasarım kurallarını karşılayarak, ve ayrıca Cadence ortamında kurduk ve simülasyonlarını tamamladık. Deneysel sonuçlar, anahtarlamalı kafesleri kullanılarak lojik fonksiyonları gerçeklemenin, geleneksel CMOS gerçeklemeleri ile karşılaştırıldığında çok daha az serim alanı kapladığını ve rekabetçi gecikme ve güç tüketimi değerlerine sahip olduğunu göstermektedir.

Arastirma lattice technology.png

Performans Optimizasyonu

Gecikme kısıtlaması altında kafes boyutlarını optimize etmek için bir lojik sentez algoritması önerdik. Ayrıca kafeslerin alan-gecikme-güç verimliliği için statik ve dinamik lojik çözümleri önerdik.

Sentez

Minimum boyutta anahtarlama kafesler ile lojik fonksiyonları gerçeklemek için optimum ve sezgisel algoritmalar önerdik.


Seçilmiş Yayınlar
başlık: Technology Development and Modeling of Switching Lattices Using Square and H Shaped Four-Terminal Switches
yazarlar: Nihat Akkan, Serzat Safaltin, Levent Aksoy, Ismail Cevik, Herman Sedef, Csaba Andras Moritz ve Mustafa Altun
makale: IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing, Vol. 10, Issue 1, pp. 351–360, 2022.
bildiri: Design, Automation and Test in Europe (DATE), Grenoble, France, 2020.

PDF.png
Yayın

PPT.jpg
Sunum

başlık: Novel Methods for Efficient Realization of Logic Functions Using Switching Lattices
yazarlar: Levent Aksoy ve Mustafa Altun
makale: IEEE Transactions on Computers, Vol. 69, Issue 3, pp. 427–440, 2020.
bildiri: Design, Automation and Test in Europe (DATE), Florence, Italy, 2019.

PDF.png
Yayın

PPT.jpg
Sunum

Proje Desteği
başlık: Anahtarlamalı Kafesler ile Hesaplama: Teknoloji Geliştirme, Eleman Modelleme ve Devre Tasarımı
kurum & program: TUBITAK-NSF İkili İşbirliği Programı (2501)
bütçe: 720.000 TL
süre: 2019-2023, tamamlandı
proje hedefi: Anahtarlamalı kafes yapılarına dayanan, CMOS uyumlu, ve geleneksel CMOS devrelerine göre çok daha düşük alan kaplayan yeni bir teknoloji geliştirmek ve geliştirilen teknoloji için eksiksiz bir elektronik tasarım otomasyon (Electronic Design Automation – EDA) metodolojisi sunmak.


Enerji Verimli YSA Donanım gerçeklemesi

İleri beslemeli yapay sinir ağlarının (YSA) enerji tüketimini azaltmak için donanıma odaklı eğitim tekniklerini, yeni hibrit bit paralel seri sayı temsillerini ve sabit çarpma tabanlı paylaşım tekniklerini kullanmayı amaçlıyoruz.

Arastirma ANN.png


Seçilmiş Yayınlar
başlık: Efficient Time-Multiplexed Realization of Feedforward Artificial Neural Networks
yazarlar: Levent Aksoy, Sajjad Parvin, Mohammadreza Nojehdeh ve Mustafa Altun
bildiri: IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Seville, Spain, 2020.

PDF.png
Yayın

PPT.jpg
Sunum

Proje Desteği
başlık: Çok Düşük Enerji Tüketen Taşınabilir Kullanıma Uygun Yapay Sinir Ağlarının (YSA) Donanım Gerçeklemeleri
kurum& program: TÜBİTAK Bilimsel ve Teknolojik Araştırma Projelerini Destekleme Programı (1001)
bütçe: 400.000 TL
süre: 2020-2023, tamamlandı
proje hedefi: Sayı sistemlerinden başlanarak lojik, devre ve sistem gerçekleme seviyelerinde enerji optimizasyonu yapmak.


Nano-Çaprazlayıcı Dizinler ile Hesaplama

Nano-çaprazlayıcı dizinler yakın gelecekte CMOS'un yerini alacak güçlü bir aday teknoloji olarak ortaya çıkmıştır. Düzenli ve sık yapıdadırlar. Dizinler ile hesaplama, iki-uçlu ya da dört-uçlu anahtarlar gibi davranan çaprazlama noktaları ile elde edilir. Kullanılan teknolojiye bağlı olarak, iki-uçlu bir anahtar, diyot, direnç/memristor veya FET gibi davranır. Öte yandan, dört-uçlu anahtarın tek bir davranışı vardır. İki-uçlu anahtar tabanlı dizinler için önerilen birçok farklı teknoloji olmasına rağmen, dört-uçlu anahtar tabanlı dizinler, anahtarlamalı kafesler, için teknoloji geliştirme yakın zamanda başlamıştır.

Hem iki-uçlu hem de dört-uçlu anahtar tabanlı dizinler için, ortaya çıkacak bir nano bilgisayarın tasarımı ve yapımı için tam bir sentez ve performans optimizasyon metodolojisi geliştirmeyi hedefliyoruz. Ayrıca, özellikle anahtarlamalı kafesleri gerçeklemek için CMOS uyumlu teknolojiler geliştirmeyi hedefliyoruz.

Arastirma nano-2019.png

Teknoloji Geliştirme

Dört-uçlu anahtar tabanlı bir dizin, iki-uçlu anahtarlara kıyasla, anahtar sayısı bakımından önemli bir alan avantajı sunsa da, teknoloji seviyesinde gerçekleştirilmesi henüz net olarak cevaplanmamıştır. Bu ihtiyacı karşılamak için, üç boyutlu teknoloji bilgisayar destekli tasarım (TCAD) simülasyonları kullanarak, dört-uçlu anahtarların doğrudan CMOS teknolojisi ile gerçeklenebileceğini gösterdik. Ardından, TCAD simülasyon verilerini standart CMOS akım-gerilim denklemlerine uyarlayarak, dört-uçlu bir anahtarın Spice modelini geliştirdik.

Performans Optimizasyonu

Memristor tabanlı dizinleri de içeren nano anahtarlamalı dizinlerin optimizasyonu üzerine çalışıyoruz. Dizilerin alan, gecikme ve güç maliyetlerini dikkate alarak hataya dayanıklı lojik sentez algoritmaları önerdik.

Hata Toleransı

Yeniden ayarlanabilir nano dizinlerde oluşan açık ve kapalı hataları inceledik. Kalıcı hatalar için, sıralama, geri-izleme ve satır eşleştirme tekniklerini kullanan hızlı bir buluşsal algoritma geliştirdik. Yumuşak/geçici hatalar için, tolere edilebilir bütün hata yerlerini yinelemeli bir teknik kullanarak belirledik.

Sentez

Boolean fonksiyonları diyot, FET ve dört-uçlu anahtar tabanlı nano dizinler ile gerçekledik ve dizin boyut formülleri elde ettik. Buna ek olarak, dört-uçlu anahtarlardan oluşan dizinleri optimum sentezleyen bir algoritma geliştirdik.

Seçilmiş Yayınlar
başlık: Realization of Four-Terminal Switching Lattices: Technology Development and Circuit Modeling
yazarlar: Dan Alexandrescu, Serzat Safaltin, Oguz Gencer, Ceylan Morgul, Levent Aksoy, Sebahattin Gurmen, Csaba Andras Moritz ve Mustafa Altun
bildiri: Design, Automation and Test in Europe (DATE), Florence, Italy, 2019.

PDF.png
Yayın

PPT.jpg
Sunum

başlık: Defect Tolerant Logic Synthesis for Memristor Crossbars with Performance Evaluation
yazarlar: Onur Tunali ve Mustafa Altun
makale: IEEE Micro, Vol. 38, Issue 5, pp. 22–31, 2018.
bildiri: Design, Automation and Test in Europe (DATE), Dresden, Germany, 2018.

PDF.png
Yayın

PPT.jpg
Sunum

başlık: Logic Synthesis and Testing Techniques for Switching Nano-Crossbar Arrays
yazarlar: Dan Alexandrescu, Mustafa Altun, Lorena Anghel, Anna Bernasconi,
Valentina Ciriani, Luca Frontini ve Mehdi Tahoori
makale: Microprocessors and Microsystems, Vol. 54, pp. 14–25, 2017.
bildiri: Euromicro Conference on Digital System Design (DSD),
Limassol, Cyprus, 2016.

PDF.png
Yayın

PDF.png
Sunum

başlık: Permanent and Transient Fault Tolerance for Reconfigurable Nano-Crossbar Arrays
yazarlar: Onur Tunali ve Mustafa Altun
makale: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Vol. 36, Issue 5, pp. 747–760, 2017.
bildiri: IEEE/ACM International Symposium on Nanoscale Architectures
(NANOARCH), Boston, USA, 2015.

PDF.png
Yayın

PPT.jpg
Sunum

Proje Desteği
başlık: Anahtarlamalı Nano-Çaprazlayıcı Bilgisayar Sentezi ve Performans Optimizasyonu
kurum & program: Avrupa Birliği/Avrupa Komisyonu H2020 MSCA
Araştırma ve Yenilikçilik Değişim Programı (RISE)
bütçe: 724.500 EURO
süre: 2015-2019, tamamlandı
proje hedefi: Nano-çaprazlayıcı dizinler için komple bir sentez metodolojisi geliştirmek ve basit bilgisayarlar olan durum makineleri gerçeklemek.
başlık: Nano Anahtarlamalı Dizinlerin Sentezi ve Güvenilirlik Analizi
kurum & program: TÜBİTAK Kariyer Geliştirme Programı (3501)
bütçe: 190.000 TL
süre: 2014-2017, tamamlandı
proje hedefi: Nano-çaprazlayıcı dizinler için lojik sentezi, hata toleransı ve performans optimizasyonu yapmak.


Stokastik Devre Tasarımı

Rastgele veya Binom dağılımlı bit katarlarını işleyen yeni bir hesaplama paradigması “Bit Stream Computing (BSC)” önerdik. Önerilen paradigma, stokastik mantığın alan avantajından ve geleneksel ikili mantığın doğruluk avantajından faydalanmaktadır. Asenkron veya senkron olarak sınıflandırılmış tam ve yarı doğru aritmetik çarpıcı ve toplayıcı devreler gerçekledik. Bu çalışmanın, geleneksel ikili ve geleneksel stokastik hesaplama tekniklerine alternatif sunarak yeni ufuklar açtığına inanıyoruz.

Arastirma Bit Stream.png
Seçilmiş Yayınlar
başlık: From Stochastic to Bit Stream Computing: Accurate Implementation of Arithmetic Circuits and Applications in Neural Networks
yazarlar: Ensar Vahapoglu ve Mustafa Altun
makale: arXiv, 1805.06262, 2018.
bildiri: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), Pittsburgh, USA, 2016.

PDF.png
Yayın

PPT.jpg
Sunum

Proje Desteği
başlık: Yüksek Doğruluklu Stokastik Devre Bloklarının Gerçeklenmesi ve Yazdırılabilir/Esnek Elektronik Sistemlerde Kullanımı
kurum & program: TÜBİTAK Bilimsel ve Teknolojik Araştırma Projelerini Destekleme Programı (1001)
bütçe: 260.000 TL
süre: 2017-2020, tamamlandı
proje hedefi: Stokastik hesaplamada hatayı azaltmak, hatasız aritmetik blokları gerçeklemek ve bu blokları geniş alan elektroniğinde kullanmak.


Yaklaşık Devre ve Sistem Tasarımı

Bu çalışma, sistem düzeyinde tasarımın istenen doğrulukta olması için devre düzeyinde tasarımın güç/alan verimliliğini sağlar. İlk önce devre seviyesinde yaklaşık hesaplama blokları, genellikle toplayıcılar ve çarpıcılar, tasarladık. Daha sonra sistem seviyesinde, toplam hesaplama maliyetini en aza indiren ancak nihai performansı koruyan yaklaşık hesaplama birimlerini seçen bir yöntem geliştirildi. Yöntem, her bloğun yeterli çıktı kalitesini belirlemek için toplam sistemi en üst seviyeden aritmetik birimlerine kadar araştırmaktadır.

Arastirma-yaklasik.png
Seçilmiş Yayınlar
title: Systematic Synthesis of Approximate Adders and Multipliers with Accurate Error Calculations
yazarlar: Mohammadreza Nojehdeh ve Mustafa Altun
makale: Integration, the VLSI Journal, Vol. 70, pp. 99–107, 2020.
bildiri: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), Limassol, Cyprus, 2020.

PDF.png
Yayın

PPT.jpg
Sunum

başlık: Circuit Aware Approximate System Design with Case Studies in Image Processing and Neural Networks
yazarlar: Tuba Ayhan ve Mustafa Altun
makale: IEEE Access, Vol. 7, pp. 4726–4734, 2019.
bildiri: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), Bochum, Germany, 2017.

PDF.png
Yayın

PPT.jpg
Sunum

Proje Desteği
başlık: Yaklaşık Hesaplama Yapabilen Yeniden Yapılandırılabilir Devre ve Sistemlerin Tasarımı ve Öğrenme İçeren Görüntü İşleme Uygulamalarında Kullanılması
kurum & program: TÜBİTAK Bilimsel ve Teknolojik Araştırma Projelerini Destekleme Programı (1001)
bütçe: 230.000 TL
süre: 2018-2020, tamamlandı
proje hedefi: Sistemden istenen doğruluk veya kalite seviyesine bağlı olarak her devre bloğunun gerekli doğruluk performansını belirleyerek minimum güç/enerji tüketimi için en uygun çözümleri hiyerarşik bir yaklaşımla bulmak.


Tersinir Hesaplama

Geleneksel CMOS devrelerinden farklı olarak, tersinir devreler gizli hatalara sahip değildir, bu nedenle dahili devre düğümlerinde meydana gelen hatalar her zaman çıkışta bir hataya neden olur. Bu, çevrimiçi veya eşzamanlı hata toleransı için eşsiz bir özelliktir. Bu durumdan hareketle, tersinir hesaplamayı kullanarak hataya dayanıklı CMOS devre blokları gerçekliyoruz. Öncelikle tersinir kapılarla tersinir devreler sentezliyoruz; sonra onları hataya dayanıklı hale getiriyoruz; ve son olarak tersinir kapılardan CMOS kapılara dönüşümü yapıyoruz.

Research-reversible tr-3.png

Mükemmel Hata Tespiti

Tersinir hesaplamadan yararlanarak % 100 çevrimiçi veya eşzamanlı hata tespitine sahip CMOS devreleri sentezledik. Bu amaç için tersinir parite korunumlu bir kapı kütüphanesi önerdik.

Çevrimiçi Hata Tespiti ve Düzeltme

Çoklu kontrol Toffoli kapılarını kullanarak tersine çevrilebilir bir devrede hataya dayanıklı hale getirmek için iki teknik geliştiriyoruz. İlk olarak, tek parite korumasına dayanan ve çıktıdaki tek sayıdaki hataları tespit edebilen bir teknik geliştirdik. İkinci teknik ise Hamming kodları üzerine inşa edilen bir hata düzeltme tekniğidir. Aynı zamanda, Fredkin kapısı gibi korunumlu tersinir kapılarla mükemmel hata tespitinin mümkün olduğunu gösterdik. Bir sonraki adım olarak, önerilen tersinir devreleri geleneksel CMOS kapılarından oluşan devrelere dönüştürdük.

Seçilmiş Yayınlar
başlık: Perfect Concurrent Fault Detection in CMOS Logic Circuits Using Parity Preservative Reversible Gates
yazarlar: Sajjad Parvin ve Mustafa Altun
makale: IEEE Access, Vol. 7, pp. 163939–163947, 2019.
bildiri: IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), Rhodes Island, Greece, 2019.

PDF.png
Yayın

PPT.jpg
Sunum

başlık: Exploiting Reversible Computing for Latent-Fault-Free Error Detecting/Correcting CMOS Circuits

yazarlar: Mustafa Altun, Sajjad Parvin, and Husrev Cilasun
makale: IEEE Access, Vol. 6, pp. 74475–74484, 2018.

PDF.png
Yayın

Proje Desteği
başlık: Hata Farkındalıklı 8-bitlik bir Tersinir Mikroişlemci Gerçeklemesi
kurum & program: TÜBİTAK Hızlı Destek Programı (1002)
bütçe: 30.000 TL
süre: 2016-2017, tamamlandı
proje hedefi: Çevrimiçi hataları tespit edebilen tersinir devreleri ve bunların CMOS devre karşılıklarını gerçeklemek.


Elektronik Ürünlerin Güvenilirliği

Elektronik sektöründe yaşanan baş döndürücü gelişmeler, elektronik devre ve sistemlerin güvenilirliği kavramını yeniden şekillendirmiştir. Elektronik ürünlerin günümüzdeki hızlı üretim döngüleri, uzun süreli ve masraflı olan geleneksel hızlandırılmış testlerin öneminin azalmasına neden olmuştur. Biz bu çalışmada görece masrafsız ve yüksek doğruluklu bir güvenilirlik analizi metodolojisi önerdik. Bu noktada saha verileri, yeni hızlandırılmış testler ve hata fiziği tabanlı benzetimlerden yararlandık. Çalışmalarımız Avrupa'nın en büyük ev aletleri ve beyaz eşya üreticilerinden biri olan Arçelik A.Ş. ile birlikte yürütülmüştür.

Arastirma-3.png

Saha Verileri ile Güvenilirlik Analizi ve Tahmini

Yüksek miktarda üretilen elektronik ürünler için saha arıza verileri ile güvenilirlik tahmin modeli geliştirdik. Modelimizi, önerdiğimiz değişim noktası tespit metodunu kullanarak Weibul-eksponansiyel dağılımı üzerine inşa ettik. Modelimiz, elektronik kartların kısa süreli saha verilerini kullanarak, garanti süresi içerisindeki güvenilirlik performanslarını yüksek doğrulukta tahmin etmektedir. Bu çalışmada kullandığımız kartların garanti süresi 3 yıldır ve kullandığımız veri seti 3 aylıktır.

Varistörlerin Bozunum Prosesleri

ZnO varistörlerde görülen değişik bozunum mekanizmalarını inceledik. Varistör voltajı Vv'nin değişik stres seviyelerinde nasıl değiştiğini modelledik. Bu amaç için, değişik AC akımlar kullanarak hızlandırılmış testler uyguladık ve Vv değerlerini ölçtük. Literatürdeki genel kanının aksine sadece düşen Vv değerleri değil, yükselen Vv değerleri de gözlemledik.

Seçilmiş Yayınlar
başlık: A Change-Point based Reliability Prediction Model using Field Return Data
yazarlar: Mustafa Altun ve Vehbi Comert
makale: Reliability Engineering and System Safety, Vol. 156, pp. 175–184, 2016.
bildiri: Reliability and Maintainability Symposium (RAMS),
Palm Harbor, USA, 2015.

PDF.png
Yayın

PPT.jpg
Sunum

başlık: Distinct Degradation Processes in ZnO Varistors: Reliability Analysis and Modeling with Accelerated AC Tests
yazarlar: Hadi Yadavari ve Mustafa Altun
makale: Turkish Journal of Electrical Engineering and Computer Sciences, Vol. 25, No.4, pp. 3240–3252, 2017.
bildiri: European Safety and Reliability Conference (ESREL), Zurich, Switzerland, 2015.

PDF.png
Yayın

PPT.jpg
Sunum

Proje Desteği
başlık: Beyaz Eşya Elektronik Kartları için Yüksek Doğruluklu bir Güvenilirlik Analizi Metodolojisi
kurum & program: TÜBİTAK Üniversite-Sanayi İşbirliği Programı (1505)
bütçe: 210.000 TL
süre: 2013-2015, tamamlandı
proje hedefi: Elektronik kartlar için saha geri dönüş verilerini, yeni hızlandırılmış test metodolojilerini ve hata bazlı simülasyonların fiziğini kullanarak güvenilirlik tahmin tekniklerini geliştirmek.


Analog Devre Tasarımı

Pozitif Geribesleme

Geleneksel olarak analog devreler pozitif geribesleme çevrimleri içermemelidirler. Aykırı gözükse de, biz bu çalışmada akım kuvvetlendiricilerin giriş empedanslarını pozitif geribesleme kullanarak başarıyla iyileştirdik. Ek olarak yeni bir tamamen farksal akım kuvvetlendirici devresi önerdik ve bu devreyi filtre uygulamalarında test ettik.

Seçilmiş Yayınlar
başlık: Design of a Fully Differential Current Mode Operational Amplifier with its Filter Applications
yazarlar: Mustafa Altun ve Hakan Kuntman
makale: AEU International Journal of Electronics and Communications,
Vol. 62, Issue 3, pp. 39–44, 2008.
bildiri: ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI), Stresa, Italy, 2007.

PDF.png
Yayın

PPT.jpg
Sunum


Ayrık Matematik

"Self Duality" Problemi

IDNF (irredundant disjuntive normal form) formundaki monoton bir Boolean fonksiyonun self-dual olup olmadığının zaman karmaşıklığında belirlenmesi, matematikte çözülememiş önemli problemlerden biridir. Bu çalışma bu ünlü problem üzerinedir. Biz bu çalışmada IDNF formundaki monoton Boolean fonksiyonların değişken sayısının çarpım (disjunct) sayısından fazla olamayacağını gösterdik. Ayrıca n sayıda çarpım ve n sayıda değişken içeren IDNF formundaki monoton Boolean fonksiyonların, self-dual olup olmadığını bulan bir algoritma geliştirdik. Algoritmanın zaman karmaşıklığı O(n^3)'dür.

Seçilmiş Yayınlar
başlık: A Study on Monotone Self-dual Boolean Functions
yazarlar: Mustafa Altun ve Marc Riedel
makale: Acta Mathematicae Applicatae Sinica - English Series, Vol. 33, Issue 1, pp. 43–52, 2017

PDF.png
Yayın

PPT.jpg
Sunum

Retrieved from "https://www.ecc.itu.edu.tr/index.php?title=Ara%C5%9Ft%C4%B1rma&oldid=4477"
Personal tools
Namespaces

Variants
Actions
ECC
ECC (In Turkish)
Toolbox